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冠乾科技(上海)有限公司
初級(jí)會(huì)員 | 第6年

021-20962769

  • 納米紅外光譜探測(cè)細(xì)胞外囊泡的結(jié)構(gòu)和異質(zhì)性

    納米紅外光譜探測(cè)細(xì)胞外囊泡的結(jié)構(gòu)和異質(zhì)性

    布魯克納米紅外光譜儀(nanoIR)采用光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)(AFM-IR)實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域紅外信號(hào)的采集。紅外激光照射到樣品上,樣品吸收輻射光產(chǎn)生熱膨脹,這種熱膨脹引發(fā)探針的震蕩,通過監(jiān)控探針的震蕩強(qiáng)度獲得紅外吸收強(qiáng)度。AFM-IR利用原子力探針...

    醫(yī)療衛(wèi)生檢測(cè)2022年08月18日
  • 特定位點(diǎn)的化學(xué)摻雜在有機(jī)半導(dǎo)體晶體表面的電子分布表征解決方案

    特定位點(diǎn)的化學(xué)摻雜在有機(jī)半導(dǎo)體晶體表面的電子分布表征解決方案

    本文描述了一種特定位點(diǎn)的n型摻雜機(jī)制,用兩種有機(jī)半導(dǎo)體的單晶做實(shí)驗(yàn),用特定位點(diǎn)的消除電子陷阱并增加背景電子濃度,使晶體擁有更優(yōu)異的導(dǎo)電性。摻雜晶體組成的場(chǎng)效應(yīng)晶體管(FET)的電子傳輸特性得到顯著改善。增強(qiáng)了FET的電特性。表面化學(xué)摻雜是專...

    電子/電氣檢測(cè)2022年07月27日
  • UMT摩擦磨損測(cè)試PVD涂層CrN的摩擦學(xué)性能

    UMT摩擦磨損測(cè)試PVD涂層CrN的摩擦學(xué)性能

    布魯克摩擦磨損試驗(yàn)機(jī), 提供更快的速度、更大的扭矩、和更好的力測(cè)量。另外,它引入了一些強(qiáng)大的新功能,大大提高了工作效率和易用性。

    其他分類檢測(cè)2021年04月09日
  • 薄膜材料的納米力學(xué)測(cè)試解決方案

    薄膜材料的納米力學(xué)測(cè)試解決方案

    布魯克TI系列納米材料機(jī)械性能,壓痕,劃痕,摩擦磨損具有精度很高,結(jié)合原位AFM功能,可獲得準(zhǔn)確數(shù)據(jù),排除環(huán)境因素,底材因素。

    電子/電氣檢測(cè)2021年04月09日
  • 布魯克公司發(fā)布完整的掃描電化學(xué)顯微鏡解決方案

    布魯克公司發(fā)布完整的掃描電化學(xué)顯微鏡解決方案

    布魯克*的PeakForce SECM™ 模塊是完備商用解決方案,在基于原子力顯微鏡的掃描電化學(xué)顯微鏡上實(shí)現(xiàn)了小于100納米的空間分辨率。

    電子/電氣檢測(cè)2021年04月09日
  • 布魯克三維光學(xué)輪廓儀在光學(xué)領(lǐng)域的一些應(yīng)用

    布魯克三維光學(xué)輪廓儀在光學(xué)領(lǐng)域的一些應(yīng)用

    光學(xué)元件在各個(gè)領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用,對(duì)光學(xué)元件的表面加工精度提出越來越高的要求。如何檢測(cè)光學(xué)元件的加工精度,從而用于優(yōu)化加工方法,保證最終元器件的性能指標(biāo),是光學(xué)元件加工領(lǐng)域的關(guān)鍵問題之一。

    電子/電氣檢測(cè)2021年04月09日
  • 各種金屬牌號(hào)3D打印技術(shù)應(yīng)用

    各種金屬牌號(hào)3D打印技術(shù)應(yīng)用

    粉末的安全性、流動(dòng)性和體積密度,都會(huì)直接影響部件的成形結(jié)果。因此,SLM Solutions從2016年起就一直活躍于金屬粉末制造領(lǐng)域,為客戶提供理想的材料,使其適用于不同行業(yè)的具體應(yīng)用需求。

    鋼鐵/金屬檢測(cè)2021年04月09日
  • 三維光學(xué)輪廓儀在光學(xué)領(lǐng)域的解決方案

    三維光學(xué)輪廓儀在光學(xué)領(lǐng)域的解決方案

    光學(xué)元件在各個(gè)領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用,對(duì)光學(xué)元件的表面加工精度提出越來越高的要求。如何檢測(cè)光學(xué)元件的加工精度,從而用于優(yōu)化加工方法,保證最終元器件的性能指標(biāo),是光學(xué)元件加工領(lǐng)域的關(guān)鍵問題之一。

    電子/電氣檢測(cè)2021年04月09日

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