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小型近紅外光譜儀的基本組成有幾部分？
現(xiàn)代近紅外光譜(NIR)分析技術(shù)是近年來分析化學領(lǐng)域迅猛發(fā)展的高新分析技術(shù)。它綜合應(yīng)用了現(xiàn)代計算機技術(shù)、光譜分析技術(shù)，數(shù)理統(tǒng)計以及化學計量學等多個學科的最新研究成果，并使之融為一體。近紅外光譜技術(shù)是一項新的無損檢測技術(shù)，能夠高效、快速、準確地對固體、液體、粉末狀等有機物樣品的物理、力學和化學性質(zhì)等進行無損檢測。引用先進的近紅外檢測技術(shù)，比傳統(tǒng)檢測方式更節(jié)約費用、效率更高，并且操作風險低。
小型近紅外光譜儀利用干涉圖與光譜圖之間的對應(yīng)關(guān)系，通過測量干涉圖并對干涉圖進行傅里葉積分變換的方法來測定和研究近紅外光譜。
小型近紅外光譜儀基本組成包括五部分：
1、分析光發(fā)生系統(tǒng)，由光源、分束器、樣品等組成，用以產(chǎn)生負載了樣品信息的分析光；
2、以傳統(tǒng)的麥克爾遜干涉儀為代表的干涉儀，以及以后的各類改進型干涉儀，其作用是使光源發(fā)出的光分為兩束后，造成一定的光程差，用以產(chǎn)生空間（時間）域中表達的分析光，即干涉光；
3、檢測器，用以檢測干涉光；
4、采樣系統(tǒng)，通過數(shù)模轉(zhuǎn)換器把檢測器檢測到的干涉光數(shù)字化，并導入計算機系統(tǒng)；
5、計算機系統(tǒng)和顯示器，將樣品干涉光函數(shù)和光源干涉光函數(shù)分別經(jīng)傅里葉變換為強度俺頻率分布圖，二者的比值即樣品的近紅外圖譜，并在顯示器中顯示。