從耦合電容的結(jié)構(gòu)可知，整臺耦合電容器是由1 00個左右的單元件串聯(lián)后組成的。就電容量而言，其變化+IO%，在100個單元件如有10個以下的元件發(fā)生短路損壞，仍在允許范圍之內(nèi)。此時，另外90個左右單元電容要承擔(dān)較高的運(yùn)行電壓，這對運(yùn)行中的耦合電容器的絕緣造成了極大的危害。    
    造成耦合電容器損壞事故的主要原因多數(shù)是由于在出廠時就帶有一定的先天缺陷的廠家對電容芯子烘干不好，留有較多的水分；或元件卷制后沒有及時轉(zhuǎn)入壓裝’造成元件在空氣中的滯留時間太長，另外，還有在卷制中碰破電容器紙等。個別電容器由于膠圈密封不嚴(yán)，進(jìn)入水分。此時一部分沉積在電容器底部，另一部分水分在交流電場作用下將懸浮在油層的表面，此時如頂部單元件電容器有氣隙，它容易吸收水分，又由于頂部電容器的場強(qiáng)較高，這部分電容器易損壞。對損壞的電容器解體后分析得知，電容器表面已形成水膜，由于表面存在雜質(zhì)，使水膜迅速電離而導(dǎo)電，引起電容量的漂移，介電強(qiáng)度、電暈電壓和絕緣電阻降低，損耗增大，從而使電容器發(fā)熱，后造成了電容器的失效。所以每年的預(yù)防性試驗(yàn)測量絕緣電阻、介質(zhì)損耗因數(shù)并計算出電容量是十分必要的。
    電容器的擊穿往往是與電場的不均勻相聯(lián)系的，在很大程度上決定于宏觀結(jié)構(gòu)和工藝條件，而電容器的擊穿就發(fā)生在這些弱點(diǎn)處。在電容器內(nèi)部，無論是先天缺陷還是在運(yùn)行中受潮，都首先造成部分電容器損壞，運(yùn)行電壓將被完好電容器重新分配，此時每個單元件上的電壓較正常時偏高，從而導(dǎo)致完好的電容器繼續(xù)損壞，后導(dǎo)致電容器擊穿。
    為了減少耦合電容器的爆炸事故發(fā)生，對運(yùn)行中的耦合電容器應(yīng)連續(xù)監(jiān)測與帶電測量電容電流，并分析電容量的變化情況。