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方塊電阻測試儀  型號： ST-21 
方塊電阻測試儀是一種依照類似的標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。 
該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。 
◆ 特點： 
  
1 采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩(wěn)定，低功耗； 
2 以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰； 
3 采用單個電池供電，帶電池欠壓指示； 
4 體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g； 
5 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜  
6 探頭帶抗靜電模塊 
◆ 技術指標： 
測量范圍 按方塊電阻量值大小分為二個量程檔： 
  1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□； 
  2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□； 
恒流源 測量過程誤差：≤±0.8% 
模數(shù)轉換器 量程：0～199.99mv； 
 分辨率：10μv； 
 方式：LCD大屏幕顯示；性，量程均自動顯示；小數(shù)點同步顯示； 
測量不確定度 在整個量程范圍內(nèi)，測量不確定度≤5% 
四探針探頭規(guī)格 間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；緣電阻≥500MΩ 
電源 9V疊層電池1節(jié)