經(jīng)常有人在使用頻譜儀時遇到這樣的問題：在進行信號的頻譜分析測試時，為什么不同的頻譜儀的設(shè)置狀態(tài)，功率電平讀數(shù)不一樣？

情況1 超寬SPAN頻譜測量

設(shè)置規(guī)則：

測試頻點間隔<RBW/2，VBW自動，參考電平稍大于信號電平；頻點間隔=SPAN/(測試點數(shù)-1)。

原理分析：

頻譜儀上每個測試值對應一個測試頻段，在測試點左右1/2頻點間隔的頻段內(nèi)，進行掃描多次采樣；

當信號為CW或帶寬小于RBW的窄帶信號，只有信號頻率處1個RBW內(nèi)對應信號電平，其它采樣值都是噪聲電平；依據(jù)所選擇曲線模式以及檢波器類型算法對這些采樣值進行計算之后，顯示該頻點測試值；

曲線平均模式與SAMPLE和AVERAGE檢波器可以一起使用，與其它類型檢波器不兼容，因為曲線平均模式是算術(shù)平均，與PEAK和RMS等算法沖突；

當頻點間隔大于RBW時，RBW以外的噪聲采樣值，除了峰值檢波器的大值算法以外的其它檢波器或者曲線平均，都會讓讀數(shù)小于信號電平，頻點間隔減小會讓讀數(shù)變大；

當信號帶寬大于RBW時，電平讀數(shù)等于RBW帶寬內(nèi)部分信號功率，讀數(shù)始終小于信號電平，頻點間隔增大會讓讀數(shù)進一步變小。

當頻譜儀掃描頻點間隔大于RBW時，窄帶信號輸入，頻譜儀設(shè)置與結(jié)果現(xiàn)象總結(jié)：

即時刷新的曲線模式+峰值檢波，峰值標記點讀數(shù)與信號電平一致；

曲線大保持模式+峰值檢波，峰值標記點讀數(shù)與信號電平一致；

曲線平均模式+峰值檢波，峰值標記點讀數(shù)小于信號電平；

即時刷新的曲線模式+峰值以外的其它檢波器，峰值標記點讀數(shù)小于信號電平。

情況2 寬帶調(diào)制信號功率測量

準確測量電平的設(shè)置規(guī)則：

RMS檢波器，頻譜儀中心頻率設(shè)為被測信號中心頻率，SPAN設(shè)為3至5倍信號帶寬，測量模式設(shè)為band power或者channel power，模式中設(shè)置信號帶寬涵蓋真實信號帶寬，RBW<SPAN/1000，VBW>RBW，終讀取band power或者channel power數(shù)值，代表信號電平;

RMS與曲線平均模式不兼容，要獲得穩(wěn)定的RMS頻譜曲線，需延長測量時間。

不滿足設(shè)置規(guī)則要求時，頻譜儀設(shè)置與結(jié)果現(xiàn)象總結(jié)：

即時刷新的曲線模式+峰值檢波，power讀數(shù)大于信號電平；

曲線大保持模式+RMS檢波，power讀數(shù)大于信號電平；

曲線平均模式+RMS檢波，power讀數(shù)小于信號電平；

VBW<RBW，RMS或AV檢波，power讀數(shù)小于信號電平。

情況3 寬帶噪聲功率密度測量

正確的設(shè)置規(guī)則：必須RMS或SAMPLE檢波器，RMS檢波器時VBW=3*RBW，曲線不可平均；SAMPLE檢波器時VBW=0.1*RBW，可以曲線平均；標記marker功能選擇noise，讀取噪聲功率密度。

不滿足設(shè)置規(guī)則要求時，讀數(shù)可能出現(xiàn)較大偏差。

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