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光的干涉實驗，在光學發(fā)展*，證實了光的波動性，由同一光源出發(fā)的光，入射到不平行透明物質界面上時，介質上下表面反射的光，在空間相遇就會形成等厚干涉條紋，牛頓環(huán)干涉現(xiàn)象是一種的等厚干涉。在實際生產和研究中，人們不但利用牛頓環(huán)干涉來進行測長，而且可以利用牛頓環(huán)干涉條紋的疏密和是否規(guī)則均勻來檢查光學元件、機械表面加工光面的光潔度、平整度，以及半導體器件上鍍膜厚度的測量等。

FMD6015型等厚干涉實驗儀進行光的等厚干涉，測定牛頓環(huán)的曲率半徑和劈尖的夾角。

實驗項目：
1.觀察和研究等厚干涉現(xiàn)象及其特點，加深對光的波動性的認識；
2.利用牛頓環(huán)測量平凸鏡的曲率半徑和利用劈尖測量薄片的厚度；
3.掌握讀數(shù)顯微鏡的調節(jié)和使用，學習用差數(shù)平均法處理數(shù)據；
指標：
讀數(shù)顯微鏡：讀數(shù)范圍：0~50mm；
分度值：0.01mm，放大倍數(shù)：30x；
斜視目鏡：45°;反射鏡:45°可調；
增加防滑裝置；
牛頓環(huán)：R=1.5~2.0m；劈尖：可調帶框；
鈉光燈：20W，3 孔通光；磁性擋光片，升降調節(jié)；