1、歐美克激光粒度儀樣品準(zhǔn)備：

　　樣品必須能夠準(zhǔn)確反映待測(cè)物質(zhì)，確保使用的樣品是具有代表性的，若樣品儲(chǔ)存在容器中，測(cè)量前樣品應(yīng)充分混合，確保大小顆粒都被取樣。液體樣品需要選擇合適的泵速確保樣品充分混合，防止大顆粒沉入容器底部而沒有被測(cè)量;干法測(cè)量結(jié)束后不要在樣品盤上有殘留樣品，盡量保證所有樣品顆粒都被測(cè)量。

　　2、歐美克激光粒度儀光學(xué)系統(tǒng)的潔凈度：

　　激光散射測(cè)量是一種高分辨的光學(xué)檢測(cè)手段，樣品池檢測(cè)窗是測(cè)量區(qū)域的主要組成部件，窗口的灰塵和污染物質(zhì)會(huì)散射激光，雜質(zhì)散射光會(huì)隨分散樣品的散射光一起被測(cè)量，從而影響測(cè)量的精度。通過觀測(cè)測(cè)量背景就能判斷系統(tǒng)的光學(xué)潔凈程度是否達(dá)標(biāo)。

　　3、歐美克激光粒度儀基本測(cè)量：

　　一個(gè)完整測(cè)量過程包括電子背景測(cè)量光學(xué)背景測(cè)量和對(duì)光加入樣品，開始粒徑測(cè)量完成測(cè)量。進(jìn)入測(cè)量過程后，軟件界面的左下方會(huì)有對(duì)話框指示測(cè)量的進(jìn)程。

　　a、測(cè)量背景：顆粒區(qū)的測(cè)量數(shù)據(jù)，由于受到設(shè)備電子背景噪音，測(cè)試光路中鏡面灰塵，以及分散介質(zhì)中的雜質(zhì)顆粒影響會(huì)有一定的偏差。通過“測(cè)量背景”能純化粒徑測(cè)量，上述的背景信息和數(shù)據(jù)會(huì)從樣品測(cè)量數(shù)據(jù)中減去以得到的數(shù)據(jù)。

　　b、選擇測(cè)量參數(shù)：按下Option，出現(xiàn)Measure Option窗口，其中Material一欄提示操作人員測(cè)量樣品的光學(xué)參數(shù)，分散介質(zhì)，數(shù)據(jù)分析模型;Measurement顯示欄確定樣品和背景測(cè)量時(shí)間。*測(cè)量時(shí)間由樣品顆粒大小形狀及分布范圍和使用的分散附件決定，若樣品分布是單模的，其基本粒度特征使用較少的測(cè)量時(shí)間就可獲得，反之較寬粒度分布的物質(zhì)需要較長(zhǎng)的測(cè)量時(shí)間。測(cè)量樣品的光學(xué)參數(shù)包括樣品的折射率RI，吸收率Absorption，一般常見物質(zhì)的光學(xué)參數(shù)軟件中有記錄，可以直接選用;若是新的物質(zhì)，軟件庫(kù)中沒有記錄，則需要操作人員自行添加樣品光學(xué)參數(shù)。注意對(duì)于MS2000一般應(yīng)用來說，吸收率是按10的倍數(shù)變化，只有1為有效數(shù)字。在光學(xué)顯微鏡下透明的物質(zhì)，其吸收率為0，全黑的物質(zhì)吸收率為1，其他則為0.001、0.01、0.1。注意肉眼認(rèn)為不透光的可能還是0.01的吸光度，判定依據(jù)是在光學(xué)顯微鏡下查看是否透光。

　　c、加入樣品：在背景測(cè)量結(jié)束后，出現(xiàn)加入樣品提示。左方遮光度Obscuration指示欄直觀地表示測(cè)量樣品的數(shù)量，遮光度會(huì)隨著樣品數(shù)量的增加而逐漸增高。在未加入樣品前，右方的測(cè)量數(shù)據(jù)柱狀圖應(yīng)該是隨機(jī)變化，而且柱狀數(shù)據(jù)條的高度一般不超過5。

　　d、開始測(cè)量：當(dāng)遮光度達(dá)到測(cè)量要求，停止添加樣品后保持穩(wěn)定，同時(shí)測(cè)量數(shù)據(jù)窗口顯示穩(wěn)定的，足夠強(qiáng)度的柱狀數(shù)據(jù)分布，可以按下“Start”鍵開始測(cè)量。

　　4、歐美克激光粒度儀查看結(jié)果：

　　一旦測(cè)量完成，測(cè)量信息被軟件收集和分析，將以多種形式顯示。每種顯示數(shù)據(jù)的方式又稱為報(bào)告，測(cè)量窗口中所有的報(bào)告均顯示相同的測(cè)量數(shù)據(jù)。所有的測(cè)量和分析數(shù)據(jù)都存在“Record”中，Record 存放在測(cè)量文件里。一個(gè)測(cè)量文件包含一個(gè)或多個(gè)記錄，一條記錄包含了單個(gè)測(cè)量的所有信息，包括原始測(cè)量數(shù)據(jù)和計(jì)算粒度分布的參數(shù)?？梢赃x擇File-Open打開測(cè)量文件。