2011年10月12日，第八屆全國(guó)顆粒測(cè)試學(xué)術(shù)會(huì)議暨中國(guó)粉體工業(yè)發(fā)展年會(huì)在四川成都召開(kāi)。大會(huì)開(kāi)幕式由中國(guó)顆粒學(xué)會(huì)顆粒測(cè)試專業(yè)委員會(huì)主任、北京粉體技術(shù)協(xié)會(huì)理事長(zhǎng)胡榮澤教授主持，會(huì)議主要對(duì)顆粒測(cè)試的研究成果、顆粒測(cè)試設(shè)備發(fā)展的動(dòng)態(tài)進(jìn)行了深入的討論。

歐美克研發(fā)部系統(tǒng)工程師陳進(jìn)博士做了題為“激光粒度儀測(cè)量窗口全反射現(xiàn)象對(duì)粒度測(cè)量的影響”學(xué)術(shù)報(bào)告，報(bào)告闡述了激光粒度儀測(cè)量窗口的全反射對(duì)粒度測(cè)量結(jié)果的影響。結(jié)論是：在顆粒測(cè)試時(shí)，受全反射影響的粒度范圍在0.1~1.0微米之間。而在儀器光路的設(shè)計(jì)階段如能采取措施減少或消除全反射現(xiàn)象的影響，則儀器在上述范圍的測(cè)量精度可顯著改善。這一理論，引發(fā)了會(huì)議現(xiàn)場(chǎng)專家、學(xué)者的興趣，爭(zhēng)相咨詢?cè)摾碚撛趯?shí)際應(yīng)用過(guò)程中的技術(shù)性問(wèn)題。陳博士都一一悉心回答。深入的理論研究和積極學(xué)術(shù)交流一定會(huì)給歐美克儀器的發(fā)展帶來(lái)更深刻的影響。

另外，在同期舉辦的的中國(guó)粉體工業(yè)發(fā)展年會(huì)上，歐美克激光粒度儀易賽20獲得由中國(guó)粉體網(wǎng)和北京粉體技術(shù)協(xié)會(huì)共同頒發(fā)的“2011-2012年度產(chǎn)品”獎(jiǎng)，這是該產(chǎn)品問(wèn)世以來(lái)第5次獲得全國(guó)性媒體或者政府機(jī)構(gòu)授予的獎(jiǎng)勵(lì)。

                           顆粒測(cè)試會(huì)議現(xiàn)場(chǎng)

                                   歐美克公司陳進(jìn)博士做學(xué)術(shù)報(bào)告