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當(dāng)前位置：> 供求商機(jī)> OCI-V-光矢量分析儀
貨物所在地：湖北武漢市
更新時(shí)間：2025/1/22 21:00:25
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武漢東隆科技有限公司自研的光矢量分析儀OCI-V其原理是采用線性掃頻光源對(duì)待測(cè)器件進(jìn)行掃描，并結(jié)合相干檢測(cè)技術(shù)獲取待測(cè)器件的瓊斯矩陣，進(jìn)而獲得器件插損、色散、偏振相關(guān)損耗、偏振模色散等光學(xué)參數(shù)。該系統(tǒng)采用光路設(shè)計(jì)以及先進(jìn)算法，實(shí)現(xiàn)智能校準(zhǔn)，操作簡單，極大節(jié)省測(cè)試時(shí)間。
特點(diǎn)：
自校準(zhǔn)
測(cè)量長度：200m
波段：C+L、O波段（可選）
1秒內(nèi)測(cè)量多種光學(xué)參數(shù)
應(yīng)用：
平面波導(dǎo)器件
硅光器件
光纖器件
波長可調(diào)器件、放大器、濾波器
測(cè)量參數(shù)：
偏振相關(guān)損耗PDL
偏振模色散PMD
插損IL
群延時(shí)GD
色散CD
瓊斯矩陣參數(shù)
光學(xué)相位
參數(shù)：
武漢東隆科技有限公司 - 主營產(chǎn)品： OCT光柵,單光子PMT,激光光束品質(zhì)分析儀,相干coher ...
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