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行業(yè)產(chǎn)品

當前位置:
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[供應]AE-365E-日本AE.MIC超高速電容量測試儀
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  • AE-365E-日本AE.MIC超高速電容量測試儀
貨物所在地:
山東濟南市
產(chǎn)地:
日本
更新時間:
2025-03-28 15:24:47
有效期:
2025年3月28日 -- 2025年6月28日
已獲點擊:
58
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產(chǎn)品分類品牌分類

產(chǎn)品簡介

超高速:1毫秒[TYP](測量期間的時間)
2pF/20pF量程5V測量大大提高微電容的穩(wěn)定性
即使在 2 端子(4 端子)測量期間,也可通過檢測測量值的異常來檢測探頭接觸故障。
4端子接觸檢查:測量后/關閉可選
測量頻率:1kHz/120Hz±0.1%(正弦波)
串聯(lián)等效電路、并聯(lián)等效電路可切換
恒壓測量(部分量程不支持)
可進行 tanδ 測量(不支持 2pF 范圍)

詳細介紹

  • 超高速:1毫秒[TYP](測量期間的時間)

  • 2pF/20pF量程5V測量大大提高微電容的穩(wěn)定性

  • 即使在 2 端子(4 端子)測量期間,也可通過檢測測量值的異常來檢測探頭接觸故障。

  • 4端子接觸檢查:測量后/關閉可選

  • 測量頻率:1kHz/120Hz±0.1%(正弦波)

  • 串聯(lián)等效電路、并聯(lián)等效電路可切換

  • 恒壓測量(部分量程不支持)

  • 可進行 tanδ 測量(不支持 2pF 范圍)

  • HI/GO/LO 輸出,帶 3 1/2 位 (1999) 數(shù)字顯示和內(nèi)置比較器功能

  • RS-232C接口、打印機輸出(Centronics兼容)標準設備(GP-IB可選)

  • 間歇地施加測量電流以減少探頭接觸磨損[120μF/1.2mF范圍]

  • 即使在測量過程中,也可以將測量值、統(tǒng)計值、日期、時間等輸出到打印機。





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