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　　原子力顯微鏡(Atomic force microscopy，AFM)是一種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。它屬于繼光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡之后的三代顯微鏡。

　　原子力顯微鏡的基本原理是：將一個(gè)對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖的尖*原子與樣品表面原子間存在較微弱的排斥力，通過在掃描時(shí)控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將對應(yīng)于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運(yùn)動。利用光學(xué)檢測法或隧道電流檢測法，可測得微懸臂對應(yīng)于掃描各點(diǎn)的位置變化，從而可以獲得樣品表面形貌的信息。

　　功能應(yīng)用：

　　1、生物樣品表面在納米尺度下進(jìn)行觀測形貌及力學(xué)等物理特性測試；

　　2、在分子水平上實(shí)時(shí)動態(tài)地研究結(jié)構(gòu)與功能的關(guān)系；

　　3、對溶液中生物分子表面的各種相互作用力進(jìn)行測量；

　　4、在材料科學(xué)、納米生物、物理學(xué)、化學(xué)、電子學(xué)、半導(dǎo)體等領(lǐng)域中的相關(guān)應(yīng)用，對金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、有機(jī)物、高分子等樣品表面在納米尺度下進(jìn)行觀測形貌及力學(xué)等物理特性測試。