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詳細摘要： 二手sem+edx電鏡掃描電子顯微鏡（SEM）是在各種科學和工業(yè)應用中用來以高分辨率檢查樣品表面的強大工具。與傳統(tǒng)光學顯微鏡不同，SEMs使用電子而不是光來產生圖像。在SEM中，將聚焦的電子束掃描過樣品表面，電子與樣品之間的相互作用產生各種信號，被檢測到并轉換成圖像。初級電子束對表面進行高精度掃描，以便對樣品的地形和形態(tài)進行詳細檢查。SEM的主要優(yōu)點之一是能夠實現(xiàn)高分辨率成像。

詳細摘要： 二手蔡司場發(fā)射電鏡：具有出色的探測效率，能夠輕松地實現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，*高的表面細節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備靈活性，為您在材料科學研究、生命科學研究、工業(yè)實驗室或是顯微成像平臺中**各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像，提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術和方案。

詳細摘要： 二手蔡司冷場電鏡，二手熱場場發(fā)射電鏡SUPRA 40是一款高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強性能加上多種納米工具的使用，不用花費大量時間，使高分辨率成像和非導體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發(fā)射電鏡適用于材料領域、失效分析、過程控制，納米技術等。

詳細摘要： 二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡：掃描電鏡（SEM）是利用電子束掃描樣品表面，產生二次電子等信號，通過檢測這些信號來獲取樣品表面形貌、成分等信息。SEM的優(yōu)點是分辨率高，可觀察到納米級別的細節(jié)，景深大，能清晰呈現(xiàn)三維形貌，可同時進行成分分析。

詳細摘要： 二手ZEISS-FEI掃描電鏡掃描電子顯微鏡作為一種強大的微觀分析工具，能夠實現(xiàn)對樣品表面形貌的高分辨率觀察，為材料科學、生物醫(yī)學、地質學等多個領域的研究提供了強大的技術支持。以其出色的分辨率和廣泛的放大倍數范圍，能夠滿足不同研究領域的精細觀察需求。

詳細摘要： 二手蔡司場發(fā)射電鏡，蔡司SUPRA 40VP場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎上，低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實原貌的立體感樣品表面超微形貌結構信息

詳細摘要： 二手蔡司電鏡 SEM+EDX+EBSDSUPRA 40是一款高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強性能加上多種納米工具的使用，不用花費大量時間，使高分辨率成像和非導體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發(fā)射電鏡適用于材料領域、失效分析、過程控制，納米技術等。

詳細摘要： 二手電鏡sem+edx掃描電鏡分辨率：高真空二次電子像小于3.0nm（30KV） 掃描電鏡放大倍數：5×～1000000×，連續(xù)可調 能譜儀分辨率：MnKα峰的半高寬優(yōu)于127eV； 能譜儀元素測試范圍：Be4— Pu94

詳細摘要： 二手鎢燈絲電鏡二手SEM: 日本電子，日立，F(xiàn)EI，蔡司，基恩士，泰斯肯，以上品牌各一。歡迎咨詢鎢燈絲電鏡和場發(fā)射電鏡。

詳細摘要： 二手 JSM-IT300經過改進照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號處理系統(tǒng)，不僅能觀察高質量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。

詳細摘要： 二手FEI-QUANTA 250掃描電鏡掃描電鏡觀察樣品表面的形貌，分析系統(tǒng)用聚焦電子束在樣品表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子，背散射電子或吸收電子。電子槍發(fā)射出的電流激發(fā)到樣品表面產生二次電子，通過信號收集和信號轉換到達屏幕，可以看到樣品表面的同步掃描照片，實現(xiàn)對樣品表面的形貌的觀察。

詳細摘要： 二手日本電子（SEM）IT-300提供高畫質圖像，能滿足您對 W-SEM 機型的期待，鏡筒設計和掃描系統(tǒng)使得不導電樣品的圖像質量有所提高

詳細摘要： 二手蔡司場發(fā)射電鏡SEM+EDX SUPRA25系列產品配備有經過改進的第三代GEMINI®鏡筒、概念新穎的樣品臺、智能化硬件控制板和新型高效率的透鏡內二次電子探測器。SUPRA™系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡是卡爾蔡司半導體事業(yè)部的納米技術系統(tǒng)部向市場推出的功能最多的場發(fā)射掃描電子顯微鏡。具有當前儀器所具有的所有特征：如在圖像質量超高分辨率、工作電壓切換方便、出色的束流穩(wěn)定性、全分析型樣品室。

詳細摘要： 二手日立+日本電子掃描電鏡掃描電子顯微鏡SEM是一種電子顯微鏡，它通過用聚焦電子束掃描表面來產生樣品的圖像。電子與樣品中的原子相互作用，產生包含樣品表面形貌和成分信息的各種信號。電子束的掃描路徑形如光柵，將電子束的位置與檢測信號的強度相結合即可輸出圖像。在最常見的SEM模式下，探測器可以檢測到由電子束轟擊原子所激發(fā)的二次電子。不考慮其它因素，可以檢測到的二次電子數以及信號強度取決于樣品形貌。

詳細摘要： 二手SEM掃描電子顯微鏡SU3500所具備的新型的模擬圖像和改進后的電子光學系統(tǒng)以及圖像顯示算法使之能夠在低加速電壓下獲得更高的分辨率。3KV電壓時，SE圖像可達7nm,5KV電壓時，BSE圖像可達10nm。最新開發(fā)的自動多級電子槍偏壓機構能夠在不降低電子束大小的情況下，在一定范圍內的常用加速電壓下增加發(fā)射電流。因此，此款產品與S-3400N相比，噪音得以大幅減少，成像更加清晰。

詳細摘要： 二手日立電鏡SU-3500日立高新高畫質的鎢燈絲掃描電鏡SU3500, 圖象質量更進一步。通過高畫質提升掃描電鏡的分析能力和操作性, 凝聚日立*進科技“。日立高新鎢燈絲掃描電鏡SU3500具有實現(xiàn)了3kV加速電壓7nm分辨率"的全新電子光學系統(tǒng), 可實現(xiàn)實時立體成像的“實時立體觀察功能 以及更高檢測效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測器。

詳細摘要： 二手日本電子JSM-IT200是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學者易懂的樣品交換導航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察SEM圖像。Zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，Live Analysis*²可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結果，SMILE VIEWTM Lab能綜合編輯觀察和分析報告等，使它成為一個分析業(yè)務的軟件。

詳細摘要： 二手日本電子SEM+EDX JSMIT300掃描電子顯微鏡經過改進照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號處理系統(tǒng)，不僅能觀察高質量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質圖像，能滿足您對W-SEM機型的期待，新的鏡筒設計和掃描系統(tǒng)使得不導電樣品的圖像質量有了顯著的提高。

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詳細摘要： 二手電鏡二手鎢燈絲電鏡觀察樣品表面的形貌，分析系統(tǒng)用聚焦電子束在樣品表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子，背散射電子或吸收電子。電子槍發(fā)射出的電流激發(fā)到樣品表面產生二次電子，通過信號收集和信號轉換到達屏幕，可以看到樣品表面的同步掃描照片，實現(xiàn)對樣品表面的形貌的觀察。