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首頁>>束蘊儀器(上海)有限公司>>產品展示>>表面分析>>飛行時間二次離子質譜儀

  • 飛行時間二次離子質譜儀 參考價:面議

    飛行時間二次離子質譜儀PHI nano TOF3+,先進的多功能TOF-SIMS具有更強大的微區(qū)分析能力,更加出色的分析精度
    型號: PHI nano ... 廠商性質:代理商所在地:上海市 對比
    質譜儀飛行時間二次離子PHI nano TOF3+TOF3+
    2025/5/29 8:36:035186

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