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江蘇摩信工業(yè)系統(tǒng)有限公司

IC芯片卡動態(tài)彎曲測試機產品用途

時間:2023-11-28閱讀:606

IC芯片卡動態(tài)彎曲測試機產品用途:用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,柔性電子標簽等卡的彎曲和扭曲性能測試。

IC芯片卡動態(tài)彎曲測試機本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 符合以上標準。


IC芯片卡動態(tài)彎曲測試機技 術 參 數(shù)

1. 型號:MX-IC

2. 扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm

3. 正反向各15°,總扭曲角度30°

4.測試周期:1~9999次

5.測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

6.長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

7.長邊小位移量為2mm±0.50mm

8.短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

9.長邊小位移量為1mm±0.50mm

10.電 壓:AC220V±5%

11.外形尺寸:L670 X W380 X H220

12.功 率:35W

13.儀器重量:70kg

標準雙向扭轉:

長邊彎曲工位數(shù):5工位

短邊彎曲工位數(shù):5工位

雙向扭轉工位數(shù):5工位


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