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兩探針電阻率測試儀

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  • 兩探針電阻率測試儀
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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號 SZ-KDY-2
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 其他
  • 所在地 濟(jì)寧市
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更新時間:2020-02-28 10:21:44瀏覽次數(shù):421

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 地礦,能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天
SZ-KDY-2型兩探針電阻率測試儀是按照我國國家標(biāo)準(zhǔn)及美國材料與試驗協(xié)會(ASTM)推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法"設(shè)計。它適合于測量模截面尺寸是可測量的,而且棒的長度大于橫截面線度的有規(guī)則的長棒,例如橫斷面為圓形、正方形、長方形或梯形的單晶或多晶錠。

詳細(xì)介紹

兩探針電阻率測試儀(測鍺錠)

SZ-KDY-2型兩探針電阻率測試儀是按照我國國家標(biāo)準(zhǔn)及美國材料與試驗協(xié)會(ASTM)推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設(shè)計。它適合于測量模截面尺寸是可測量的,而且棒的長度大于橫截面線度的有規(guī)則的長棒,例如橫斷面為圓形、正方形、長方形或梯形的單晶或多晶錠。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端進(jìn)出,遠(yuǎn)離電壓測量探針,因此電流流過金屬與半導(dǎo)體接觸處產(chǎn)生的許多副效應(yīng)(如珀爾帖效應(yīng)、塞貝克效應(yīng)、少子注入效應(yīng)等),對測量的影響較小,因此兩探針法的測量精度一般優(yōu)于四探針法。特別是對多晶材料的測量,由于多晶晶粒間界處,雜質(zhì)局部偏析可能導(dǎo)致電阻率較大變化,這種影響對四探針法更為嚴(yán)重,故不推薦用四探針法測量多晶材料的電阻率。
本儀器除適合測量體形有規(guī)則的單晶棒外,也適合測量多晶棒。兩探針法測量水平區(qū)熔多晶鍺電阻率,在我國已有四十多年的實踐經(jīng)驗,對區(qū)熔鍺錠橫截面面積的變化已總結(jié)出一套計算方法,本儀器采用李賀成教授提出的計算公式編寫程序,可用微機(jī)HQ-710C處理區(qū)熔鍺錠的測量數(shù)據(jù),或采用KDY測量系統(tǒng)軟件測量數(shù)據(jù),并根據(jù)北京有色金屬研究總院余懷之教授的提議,擴(kuò)大了微處理機(jī)的數(shù)據(jù)處理范圍。
      本儀器主要由電氣測量部份(簡稱:主機(jī))、測試臺及兩探針頭組成。儀器的特點是主機(jī)配置雙數(shù)字表,在測量電阻率的同時,另一塊數(shù)字表(以萬分之幾的精度)適時監(jiān)測全程的電流變化,免除了測量電流/測量電阻率的轉(zhuǎn)換,更及時掌控測量電流。主機(jī)還提供精度為0.05%的恒流源,使測量電流高度穩(wěn)定。本機(jī)配有恒流源開關(guān),在測量某些材料時,可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發(fā)生,更好地保護(hù)被測材料。儀器配置了本公司的專li產(chǎn)品:“小游移探針頭”,間距為10mm的兩探針頭探針游移率在0.02~0.05%。保證了儀器測量電阻率的重復(fù)性和準(zhǔn)確度。本機(jī)需配用HQ-710C數(shù)據(jù)處理器或KDY測量系統(tǒng)軟件,置入必須的數(shù)據(jù)后,處理器會配合探頭在鍺錠上移動測量,自動計算、打印出各點的電阻率、電阻率的最大值、電阻率最小值,給測量帶來很大方便。
SZ-KDY-2型兩探針電阻率測試儀主機(jī)技術(shù)參數(shù)
(1)測量范圍:
 可測電阻率:鍺晶體0.1-100Ω·cm
 可測鍺錠尺寸:最大長度700mm;最大高度50mm;最大寬度60mm。
(2)恒流源:
 輸出電流:DC 0.004-100mA  五檔連續(xù)可調(diào)
 量程:0.004-0.01mA   
          0.04-0.10mA
          0.4-1.0mA 
          4.0-10mA
          40-100mA
恒流精度:各檔均優(yōu)于±0.05%
(3)直流數(shù)字電壓表:
 測量范圍:0-199.99mV
 靈敏度:10μA
 基本誤差:±(0.004%讀數(shù)+0.01%滿度)
 輸入阻抗:≥1000MΩ
(4)電阻測量誤差:≤0.3%
(5)兩探針頭:KDT-5
 探針間距:10.00±0.02mm  
 游移率:0.02-0.05%          
 探針壓力:4±1N/單針
(6)供電電源:
 AC   220V   ±10%   50/60Hz   功率:12W
(7)使用環(huán)境:
 溫度:23±2℃   相對溫度:≤65%
 無較強的電場干擾,無強光直接照射。
(8)重量、體積:
 主機(jī)重量:7.5Kg
 體積:390×340×190(單位:mm  長度×寬度×高度)

 

                                                                                                                          

兩探針電阻率測試儀(測細(xì)硅芯)

SZ-KDY-2型兩探針電阻率測試儀(以下簡稱兩探針儀)是按照我國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1551-1995及美國材料與試驗協(xié)會(ASTM)推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設(shè)計。配套測試架適合于測量硅芯電阻率。兩探針法的測量精度一般優(yōu)于四探針法。

整套儀器有如下特點

1、配有雙數(shù)字表:一塊數(shù)字表在測量顯示電壓的同時,另一塊數(shù)字表(以萬分之幾的精度)適時監(jiān)測全過程中的電流變化,使操作更方便,測量更精確。

數(shù)字電壓表量程:0—199.99mV  靈敏度:10μV  輸入阻抗:1000ΜΩ  基本誤差±(0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度)

2、可測電阻率范圍:0.001—10000Ω·cm。

3、測量電流由高度穩(wěn)定(萬分之幾精度)的特制恒流源提供,不受氣候條件的影響。電流量程分五檔:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。調(diào)節(jié)范圍從0.001~100mA

4、儀器采用觸點電阻更低(<5mΩ)、使用壽命更長的轉(zhuǎn)換開頭及繼電器(>10萬次),在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù),提高了測試儀的可靠性和使用壽命。

5、可加配電腦,安裝KDY測量系統(tǒng),實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集、自動換向測量、求平均值,計算、存儲并打印電阻率最大值、最小值、最大百分變化率、平均百分變化率等內(nèi)容。

 

                                                                    

兩探針電阻率測試儀(測檢磷檢硼棒)

SZ-KDY-2型兩探針電阻率測試儀(以下簡稱兩探針儀)是按照我國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1551-1995及美國材料與試驗協(xié)會(ASTM)推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設(shè)計。它適合于測量橫截面面積均勻的圓型,方型或矩形單晶錠(如硅芯、檢磷、硼棒、區(qū)熔鍺錠等)的電阻率,測樣長度與截面最大尺寸之比應(yīng)不小于3:1。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端進(jìn)出,遠(yuǎn)離電壓測量探針,因此電流流過金屬與半導(dǎo)體接觸處產(chǎn)生的許多副效應(yīng)(如珀爾帖效應(yīng)、塞貝克效應(yīng)、少子注入效應(yīng)等),對測量的影響較小,測量結(jié)果為橫截面的平均電阻率,兩探針法的測量精度一般優(yōu)于四探針法。

整套儀器有如下特點:

1、配有雙數(shù)字表:一塊數(shù)字表在測量顯示電壓的同時,另一塊數(shù)字表(以萬分之幾的精度)適時監(jiān)測全過程中的電流變化,使操作更方便,測量更精確。

數(shù)字電壓表量程:0—199.99mV  靈敏度:10μV  輸入阻抗:1000ΜΩ 基本誤差±(0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度)

2、可測電阻率范圍:0.001—10000Ω·cm。

3、測量電流由高度穩(wěn)定(萬分之幾精度)的特制恒流源提供,不受氣候條件的影響。電流量程分五檔:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。調(diào)節(jié)范圍從0.001~100mA

4、儀器采用觸點電阻更低(<5mΩ)、使用壽命更長的轉(zhuǎn)換開頭及繼電器(>10萬次),在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù),提高了測試儀的可靠性和使用壽命。

5、可加配電腦,安裝KDY測量系統(tǒng),實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集、自動換向測量、求平均值,計算、存儲并打印電阻率最大值、最小值、最大百分變化率、平均百分變化率等內(nèi)容。

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