隨著半導(dǎo)體行業(yè)的快速發(fā)展，芯片在復(fù)雜環(huán)境下的可靠性愈發(fā)受到關(guān)注。尤其在汽車(chē)電子、工業(yè)控制等關(guān)鍵領(lǐng)域，芯片必須經(jīng)受溫度、濕度等環(huán)境挑戰(zhàn)。該半導(dǎo)體企業(yè)作為行業(yè)重要參與者，其產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于智能終端與新能源領(lǐng)域，因此對(duì)芯片的穩(wěn)定性和可靠性有著要求。廣皓天步入式老化試驗(yàn)箱的引入，正是為了應(yīng)對(duì)這一挑戰(zhàn)，助力企業(yè)提升產(chǎn)品質(zhì)量和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。

據(jù)該半導(dǎo)體企業(yè)測(cè)試部門(mén)負(fù)責(zé)人介紹，廣皓天步入式老化試驗(yàn)箱投入使用后，顯著提升了芯片可靠性測(cè)試的效率和準(zhǔn)確性。通過(guò)模擬環(huán)境條件，企業(yè)能夠提前發(fā)現(xiàn)芯片潛在的質(zhì)量問(wèn)題，有效縮短研發(fā)周期，降低產(chǎn)品故障率。“廣皓天的試驗(yàn)箱解決了我們之前測(cè)試周期長(zhǎng)、數(shù)據(jù)重復(fù)性差的問(wèn)題，為芯片量產(chǎn)前的可靠性驗(yàn)證提供了有力保障。" 該負(fù)責(zé)人表示。