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廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第2年

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當(dāng)前位置:廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司>>恒溫恒濕試驗(yàn)箱>>大型恒溫恒濕箱>> SMA-80PF大型恒溫恒濕試驗(yàn)箱 芯片可靠性測(cè)試設(shè)備

大型恒溫恒濕試驗(yàn)箱 芯片可靠性測(cè)試設(shè)備

參   考   價(jià): 36000

訂  貨  量: ≥1 臺(tái)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)SMA-80PF

品       牌廣皓天

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地東莞市

更新時(shí)間:2025-05-27 16:57:29瀏覽次數(shù):326次

聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 化工儀器網(wǎng)
產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 1萬-5萬
儀器種類 立式 應(yīng)用領(lǐng)域 石油,能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣
內(nèi)箱尺寸 400*400*500 外箱尺寸 680*1120*1510
用途 材料耐高低溫測(cè)試 箱體材質(zhì) 防銹處理冷軋鋼板
噪音 ≤68db 面板顏色 紫羅蘭、灰色
大型恒溫恒濕試驗(yàn)箱 芯片可靠性測(cè)試設(shè)備用于驗(yàn)證芯片在溫濕度條件下的電氣性能穩(wěn)定性;量產(chǎn)環(huán)節(jié)中,對(duì)芯片進(jìn)行批量抽檢,確保產(chǎn)品一致性;汽車電子、航空航天等領(lǐng)域,模擬芯片在復(fù)雜環(huán)境中的長(zhǎng)期運(yùn)行狀態(tài),評(píng)估其可靠性與壽命。憑借精準(zhǔn)的環(huán)境模擬與可靠的數(shù)據(jù)輸出,該設(shè)備有效助力企業(yè)提升芯片產(chǎn)品質(zhì)量,縮短研發(fā)周期。

大型恒溫恒濕試驗(yàn)箱 芯片可靠性測(cè)試設(shè)備

一、適配芯片測(cè)試的核心結(jié)構(gòu)

設(shè)備采用模塊化設(shè)計(jì),測(cè)試艙體容積可達(dá) 1000L 以上,可同時(shí)容納多批次芯片樣品及測(cè)試板卡。艙內(nèi)配置防靜電樣品架與專用托盤,避免芯片因靜電吸附灰塵影響測(cè)試結(jié)果;內(nèi)膽選用 SUS316L 食品級(jí)不銹鋼材質(zhì),表面經(jīng)鏡面拋光處理,有效抑制微粒產(chǎn)生,確保測(cè)試環(huán)境潔凈度。此外,設(shè)備搭載獨(dú)立新風(fēng)過濾系統(tǒng),通過 HEPA 高效濾網(wǎng),持續(xù)過濾艙內(nèi)空氣,防止雜質(zhì)沉積影響芯片性能。

大型恒溫恒濕試驗(yàn)箱 芯片可靠性測(cè)試設(shè)備


大型恒溫恒濕試驗(yàn)箱 芯片可靠性測(cè)試設(shè)備

二、芯片級(jí)精準(zhǔn)控溫原理

依托雙級(jí)復(fù)疊制冷技術(shù)與 PID 智能控溫算法,設(shè)備實(shí)現(xiàn)芯片測(cè)試所需的快速升 / 降溫響應(yīng)。在高溫工況下,采用鎳鉻合金加熱絲配合循環(huán)風(fēng)道,確保艙內(nèi)溫度快速均勻分布;低溫環(huán)境中,雙壓縮機(jī)交替工作,保障 - 40℃低溫穩(wěn)定輸出。濕度控制方面,超聲波霧化與分子篩除濕雙系統(tǒng)協(xié)同,結(jié)合高精度溫濕度傳感器實(shí)時(shí)反饋,將濕度波動(dòng)控制在極小范圍,模擬芯片在高濕、低濕環(huán)境下的真實(shí)使用場(chǎng)景。
三、芯片測(cè)試專屬功能優(yōu)勢(shì)
  1. 高潔凈環(huán)境保障:艙體內(nèi)部低塵設(shè)計(jì)與新風(fēng)過濾系統(tǒng),滿足芯片對(duì)潔凈度的嚴(yán)苛要求,避免外部污染干擾測(cè)試結(jié)果。

  1. 多維度數(shù)據(jù)監(jiān)測(cè):內(nèi)置多路溫度傳感器與數(shù)據(jù)采集模塊,可實(shí)時(shí)記錄芯片表面及周邊環(huán)境溫濕度變化,支持曲線導(dǎo)出與對(duì)比分析。

  1. 快速溫變能力:溫變速率可達(dá) 2℃/min,滿足芯片熱應(yīng)力測(cè)試需求,加速暴露潛在缺陷。

  1. 智能自動(dòng)化測(cè)試:支持多段程序編輯,可自定義溫濕度循環(huán)曲線,適配芯片加速老化、溫濕度循環(huán)等多種測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。



四、芯片可靠性測(cè)試應(yīng)用場(chǎng)景

在芯片研發(fā)階段,用于驗(yàn)證芯片在溫濕度條件下的電氣性能穩(wěn)定性;量產(chǎn)環(huán)節(jié)中,對(duì)芯片進(jìn)行批量抽檢,確保產(chǎn)品一致性;汽車電子、航空航天等領(lǐng)域,模擬芯片在復(fù)雜環(huán)境中的長(zhǎng)期運(yùn)行狀態(tài),評(píng)估其可靠性與壽命。憑借精準(zhǔn)的環(huán)境模擬與可靠的數(shù)據(jù)輸出,該設(shè)備有效助力企業(yè)提升芯片產(chǎn)品質(zhì)量,縮短研發(fā)周期。

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