高低溫冷熱沖擊試驗箱 半導體

優(yōu)勢:

①具有穩(wěn)定、平衡的加熱、加濕性能，可進行高精度、高穩(wěn)定的溫濕度控制。

②制冷回路自動選擇，自控裝置具有隨溫度的設定值自動選擇運轉(zhuǎn)制冷回路的性能。

③實現(xiàn)高溫狀態(tài)下直接啟動制冷機，直接降溫。

④內(nèi)門裝有大觀察窗，可方便觀察供試樣品的試驗狀態(tài)。

⑤裝有優(yōu)良的安全、保護裝置-漏電斷路器、 超溫保護器，缺相保護器，斷水保護器。

高低溫冷熱沖擊試驗箱 半導體

結(jié)構(gòu)材質(zhì):

1、外殼均采用( t= 1.2mm ) A3鋼板數(shù)控機床加工成型,外悅表面進行噴塑處理,更顯光潔、美觀.

2、內(nèi)膽為進口( SUS304 )鏡面不銹鋼板;

3、保溫材質(zhì):高密度玻璃纖維棉.保溫厚度為100mm;

4、攪拌系統(tǒng):采用長軸風扇電機,耐高低溫之不銹鋼多翼式葉輪，以達強度對流垂直擴散循環(huán);

5、門與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測試區(qū)的密閉;

6、采用無反作用門]把手,操作更容易;

7、機器底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動輪;

8、觀察窗采用多層中空鋼化玻璃內(nèi)側(cè)膠合片式導電膜(可清楚觀察試驗過程) ;

9、測試孔(機器左側(cè))可外接測試電源線或信號線使用(孔徑或孔數(shù)須增加需指示);

執(zhí)行標準:

GB10589-2006 低溫試驗箱技術條件

GB10592-2006-40℃高低溫實驗箱技術條件

GB11158-2006 高溫試驗箱技術條件

GB/T2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法

GB/T2423.2-2001 試驗B：高溫試驗方法

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法