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當(dāng)前位置：南京灼華電氣有限公司>>技術(shù)文章>>反射率光電測(cè)定法ELCO OS10S-RPCP6
光電測(cè)定法是測(cè)定反射率的一種精密方法。用光電元件測(cè)定反射率標(biāo)準(zhǔn)和被測(cè)物體反射光產(chǎn)生的光電流，將電流強(qiáng)度代入一定計(jì)算公式，即可由標(biāo)準(zhǔn)的反射率算出被測(cè)物體的反射率。
有些半導(dǎo)體如硫化鎘等，在黑暗的環(huán)境下它的電阻是很高的，如受到光的照射，半導(dǎo)體原子中的電子被激發(fā)，增加了導(dǎo)電性能，使半導(dǎo)體的電阻減低，故光照射到光電阻上時(shí)線路中的電流就增大。硫化鎘光電阻是有硫化鎘單晶體制成的，單晶體積很小，放置在塑料壓成的基板上如圖1所示?；迳嫌胁讳P鋼制成的兩個(gè)電極，用特種銀膏時(shí)晶體與電極連接，在基板的上面用塑料壓成的保護(hù)罩，保護(hù)罩的頂端有塑料制成的小窗以便光線透入，透明塑料對(duì)光線的透明度必普通的玻璃好，為了適合需要，保護(hù)罩頂端的小窗有平面的，亦有制成透鏡式的，透鏡式的聚焦后的光線使照度提高2-3倍，靈敏度也將有所增加 。
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