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納米軟件案例之LED自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
項(xiàng)目背景
北京某大學(xué)是新中國(guó)為“培養(yǎng)科學(xué)技術(shù)所需求的高級(jí)化工人才"而創(chuàng)建的一所高水平大學(xué)。學(xué)校經(jīng)過60余年的建設(shè)，已經(jīng)發(fā)展成為理科基礎(chǔ)堅(jiān)實(shí)，工科實(shí)力雄厚，管理學(xué)、經(jīng)濟(jì)學(xué)、法學(xué)、文學(xué)、教育學(xué)、哲學(xué)、醫(yī)學(xué)等學(xué)科富有特色的多科性重點(diǎn)大學(xué)，形成了從本科生教育到碩士研究生、博士研究生、博士后流動(dòng)站以及留學(xué)生教育等多層次人才培養(yǎng)格局。
項(xiàng)目需求
用戶目前有keysight源表和keithley萬用表兩臺(tái)測(cè)試儀器，還有一個(gè)自制的附帶硅電池的測(cè)試暗箱。
1、源表與萬用表通過GPIB接口進(jìn)行通信。
2、源表輸出的是通過LED器件的電流（mA）和加在LED器件上的偏壓（V）。
3、自制的小黑箱放在手套箱里，用于測(cè)試LED的L-I-V測(cè)試和壽命測(cè)試的功能。
4、硅電池用于輸出信號(hào)，與萬用表相連，并讀取硅電池的光生電壓。一個(gè)LED片子上可以測(cè)出五組數(shù)據(jù)來。
5、測(cè)試完成保存格式的報(bào)告，同時(shí)可以選擇歷史文件導(dǎo)入軟件繼續(xù)進(jìn)行數(shù)據(jù)顯示
納米軟件解決方案
LED自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)由計(jì)算機(jī)、源表、萬用表和LED器件組成。LED自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)包含LED器件的L-I-V測(cè)試和壽命測(cè)試兩部分。
在L-I-V測(cè)試中，計(jì)算機(jī)軟件通過設(shè)置開始電壓、停止電壓等參數(shù)來進(jìn)行LED器件的L-I-V屬性測(cè)試，并將測(cè)試數(shù)據(jù)保存；
在壽命測(cè)試中，計(jì)算機(jī)軟件通過設(shè)置測(cè)試電流讓源表給LED器件提供一個(gè)穩(wěn)定的電流，設(shè)置測(cè)試時(shí)間來決定測(cè)試的時(shí)長(zhǎng)以及每測(cè)一次的時(shí)間間隔等參數(shù)來進(jìn)行LED器件的壽命屬性測(cè)試。
項(xiàng)目成果
LED自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)由儀器連接、功能測(cè)試、數(shù)據(jù)繪圖顯示、默認(rèn)參數(shù)配置、參數(shù)保存、參數(shù)導(dǎo)入、數(shù)據(jù)保存和數(shù)據(jù)導(dǎo)入八個(gè)模塊組成，各個(gè)模塊的作用如下：
儀器連接：用于檢測(cè)軟件是否與源表、萬用表正常通信連接；
功能測(cè)試：可以進(jìn)行LED器件的L-I-V測(cè)試和壽命測(cè)試；
數(shù)據(jù)繪圖顯示：將測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行處理后在相應(yīng)的表上顯示；
默認(rèn)參數(shù)的配置：在啟動(dòng)測(cè)試功能模塊時(shí)將自動(dòng)導(dǎo)入默認(rèn)的參數(shù)，方便測(cè)試；
參數(shù)保存：將實(shí)驗(yàn)參數(shù)進(jìn)行默認(rèn)參數(shù)保存和自定義參數(shù)保存；
參數(shù)導(dǎo)入：可以將默認(rèn)參數(shù)或者自定義的參數(shù)進(jìn)行導(dǎo)入，然后進(jìn)行測(cè)試；
數(shù)據(jù)保存：將設(shè)置的參數(shù)和測(cè)量時(shí)產(chǎn)生的數(shù)據(jù)保存到文件路徑下；
數(shù)據(jù)導(dǎo)入：將歷史測(cè)量的數(shù)據(jù)進(jìn)行導(dǎo)入并顯示相應(yīng)的圖。
啟動(dòng)軟件進(jìn)入LED自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的“主界面"。
點(diǎn)擊“運(yùn)行測(cè)試"用戶進(jìn)入測(cè)試界面，首*行儀器連接，正常連接時(shí)，兩個(gè)LED燈變?yōu)榫G色，否則變?yōu)榧t色。
在運(yùn)行測(cè)試界面用戶可分別點(diǎn)擊功能測(cè)試界面的L-I-V測(cè)試按鈕和壽命測(cè)試按鈕進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試。
在測(cè)試開始之前先對(duì)參數(shù)設(shè)置，在進(jìn)行參數(shù)設(shè)置的時(shí)候可以選擇參數(shù)導(dǎo)入，即導(dǎo)入歷史保存的參數(shù)配置，也可以將本次設(shè)置的參數(shù)保存為默認(rèn)參數(shù)和自定義參數(shù)。
完成參數(shù)設(shè)置后，點(diǎn)擊開始測(cè)試按鈕開始測(cè)試，在測(cè)試過程中可以進(jìn)行圖標(biāo)的切換，可以控制測(cè)試的暫停、繼續(xù)和停止操作。
當(dāng)測(cè)試完成后，可以點(diǎn)擊保存按鈕進(jìn)行測(cè)試數(shù)據(jù)的保存。保存的數(shù)據(jù)格式為.csv格式，可以用Excel打開瀏覽。
項(xiàng)目總結(jié)
項(xiàng)目一經(jīng)交付就投入使用，大大節(jié)約了測(cè)試時(shí)間和人員成本，項(xiàng)目交付順利，用戶感受特別好，納米軟件終將為廣大用戶帶去云測(cè)試智能數(shù)據(jù)分析的變革。
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