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納米軟件科普:用源表測(cè)試IV參數(shù)的典型應(yīng)用及源表測(cè)試軟件

閱讀:301        發(fā)布時(shí)間:2023-2-9

  器件的I-V功能測(cè)試和特征分析是實(shí)驗(yàn)過程中經(jīng)常需要測(cè)試的參數(shù)之一,一般我們用到源表進(jìn)行IV參數(shù)的測(cè)試,如果需要對(duì)測(cè)試的數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)IV曲線圖顯示及保存,可以用到源表測(cè)試軟件NS-SourceMeter。本篇文章納米軟件Namisoft小編將為大家分享一下關(guān)于用源表測(cè)試IV參數(shù)的典型應(yīng)用及源表測(cè)試軟件。

  一、各種器件的I-V功能測(cè)試和特征分析包括

  1、分立和無(wú)源元件

  兩端口器件——傳感器、磁盤驅(qū)動(dòng)器頭、金屬氧化物可變電阻(MOV)、二極管、齊納二極管、電容、熱敏電阻

  三端口器件——小信號(hào)雙極結(jié)型晶體管(BJT)場(chǎng)效應(yīng)晶體管(FET),等等

  2、簡(jiǎn)單IC器件——光學(xué)器件、驅(qū)動(dòng)器、開關(guān)、傳感器、轉(zhuǎn)換器、穩(wěn)壓器

  3、集成器件——小規(guī)模集成(SSI)和大規(guī)模集成(LSI)

  模擬IC

  射頻集成電路(RFIC)

  專用集成電路(ASIC)

  片上系統(tǒng)(SOC)器件

  4、光電器件,例如發(fā)光二極管(LED)、激光二極管高亮度LED(HBLED)、垂直腔面發(fā)射激光器 (VCSEL)、顯示器

  5、圓片級(jí)可靠性

  NBTI、TDDB、HCI、電遷移

  6、太陽(yáng)能電池

  7、電池

  等等...

  二、NS-SourceMeter源表測(cè)試軟件IV特性測(cè)試應(yīng)用案例

  這里以納米NS-SourceMeter源表軟件為例,用到軟件的掃描模塊進(jìn)行IV曲線的測(cè)試演示。

  試驗(yàn)參數(shù)設(shè)置界面

  在此界面中進(jìn)行試驗(yàn)的具體參數(shù)設(shè)置,選擇接線方式(二線法、四線法),掃描模式(從起點(diǎn)到終點(diǎn)單項(xiàng)掃描、從起點(diǎn)到終點(diǎn)循環(huán)掃描、從零點(diǎn)開始循環(huán)掃描),傳感器模式、輸出測(cè)試通道(通道、輸出類型、起點(diǎn)電壓、終點(diǎn)電壓、掃描步長(zhǎng)、電流限制、測(cè)量間隔、循環(huán)間隔、循環(huán)次數(shù)),如下圖所示。

   運(yùn)行測(cè)試界面(舉例說明)

  測(cè)試內(nèi)容:伏安特性曲線(900KΩ)

  測(cè)量結(jié)果:源表會(huì)根據(jù)改模塊配置,如掃描模式(從起點(diǎn)到終點(diǎn)單項(xiàng)掃描),傳感器模式(關(guān)閉),通道(CH1),輸出類型(電壓輸出),起點(diǎn)電壓(0.10V),終點(diǎn)電壓(10.00V),掃描步長(zhǎng)(0.10)、電流限制(1.00A),測(cè)量間隔(0.01S),循環(huán)間隔(0.10S),循環(huán)次數(shù)(1.00次)進(jìn)行掃描,如下圖所示。

  源表測(cè)試軟件詳情介紹及下載地址:搜索【納米軟件】

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