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硅材料復合測試儀

閱讀:582        發(fā)布時間:2019-7-25

硅材料復合測試儀/硅材料復合檢測儀型號:SZT-5

SZT-5硅材料復合測試儀,是由二種硅材料測試儀器組合而成的 
1,二量程的電阻測量儀器,配以手持式四針測試頭或座式測試架,可用來測量片狀,柱狀,或塊狀,電阻率 
在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導體材料。通過對恒流源的調(diào)整,可以對某些測量結(jié)果進行修整,例如對普通硅材料的測試結(jié)果要乘以0.628的探險頭修正系數(shù),對硅材料薄層擴散和導電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數(shù)為4.53等均可通過調(diào)正恒流電流加以處理。 
SZT數(shù)字式四探針測試儀,體形小巧,操作方便,量程適中,十分適於對重煉回料的分選。 
2,整流法硅材料P-N性判別儀,配有三針手持式探頭,能對片狀或塊狀電阻率在1000-0.01歐姆/厘米的。硅材料進行性判別 
     本儀器工作環(huán)境條件為: 
        溫  度:18℃―25℃ 
            相對濕度:50%-70% 
      工作室內(nèi)應無強電場干擾,不與高頻設(shè)備共用電源。 
二,技術(shù)參數(shù) 
1,測量范圍 
(1)電阻率測量: 
      電 阻 率        0.01-200Ω-cm 
方塊電阻        0.01-200Ω-口 
電    阻        0.01-200.0Ω 



2,數(shù)字電壓表   
      (1)量    程 :       200mV單一量程 
      (2)誤    差:      讀數(shù) ±0.2%±3字 
(3)輸入電阻 :      >10MΩ 
3,恒 流 源 
      (1)電流輸出               0~10mA連續(xù)可調(diào) 
      (2)量    程             1mA, 10mA 
      (3)誤     差             ±0.2%±3字, 
4,手持式四探針測試頭 
(a)探  針  間  距::      1mm 
  (b)探針機械游移率:      ±1.0% 
  (c)探  針  材  料:      碳化鎢,φ0. 
(d)壓力:  Z大 2Kg 
(2)導電類型判別: 
可對電阻率為1000-.0.01歐姆/厘米的硅材料作導電類型測定,同時可以聲,光報警方式表示被測材料屬于”重摻”。

 

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