新型的GT4040UXP-Ⅱ可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統(tǒng)下工作，帶有USB接口，雙CPU工作，速度更快，效率更高?？蓽y(cè)三端器件，另外有俄羅斯庫(kù)，西門子庫(kù)，可定量測(cè)試L，C，R參數(shù),,可對(duì)運(yùn)算放大器，光耦，三端電源進(jìn)行測(cè)試。 
。 

產(chǎn)品特點(diǎn)：  
在維修各種電子設(shè)備時(shí)，您是否常因圖紙資料不全而束手無(wú)策？您是否常因高昂的維 
修費(fèi)用而增添煩惱？ 

[GT]系列檢測(cè)儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利 
用電腦來(lái)彌補(bǔ)人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原 
理的情況下，對(duì)各種類型的電路板進(jìn)行ASA分析或ICT測(cè)試，在線檢測(cè)元器件好壞，迅速檢 
測(cè)到電路板上故障元器件。簡(jiǎn)捷經(jīng)濟(jì)地修好各種類型電路板。 

產(chǎn)品特點(diǎn)： 

◆先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)，強(qiáng)大的驅(qū)動(dòng)能力，任何故障原因的電路板皆可修好 
◆友好簡(jiǎn)單的中文操作界面，不經(jīng)專業(yè)訓(xùn)練，任何人均可成為維修專家 
◆無(wú)需電路原理圖，不必知道器件型號(hào)，對(duì)任何電路板皆可快速維修 
◆40×2路數(shù)字電路測(cè)試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫(kù)； 
◆40×2（ASA）V/I，曲線分析測(cè)試功能 
◆電路板測(cè)試存儲(chǔ)功能，被測(cè)板可與之比較 
◆與進(jìn)口同類儀器比較，性價(jià)比更優(yōu)，操作更方便 
◆通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測(cè)試。 
◆本功能亦可通過(guò)學(xué)習(xí)記錄，比較分析來(lái)測(cè)試。  

技術(shù)規(guī)格： 
Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統(tǒng)下工作 
雙CPU工作，速度更快，效率更高。 
功能測(cè)試40×2通道 
VI曲線測(cè)試40×2通道 
雙測(cè)試夾VI曲線測(cè)試 
網(wǎng)絡(luò)提取 程控加電 
EPROM/RAM在線讀取 
模擬器件 VI曲線測(cè)試 
總線隔離信號(hào) 
中文維修筆記 

一、序言 
GT/ICT系列測(cè)試儀已推出近十年。一方面漸入人心，一方面用戶也有了更高的要求。我公司集多年不懈努力，成功研制出換代產(chǎn)品GT/ICT-Ⅱ系 

列，把GT/ICT測(cè)試儀發(fā)展到了一個(gè)新的階段，能夠更好的滿足用戶的實(shí)際需求。 
從測(cè)試技術(shù)方面來(lái)看，GT/ICT測(cè)試儀是“后驅(qū)動(dòng)”、“器件模擬端口分析（ASA）”測(cè)試技術(shù)的簡(jiǎn)單使用，而GT/ICT-Ⅱ系列是在跟隨這兩項(xiàng)技 

術(shù)在上的發(fā)展，在總結(jié)了多年來(lái)的實(shí)際應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上重新設(shè)計(jì)而成，因而有更好的測(cè)試效果；從產(chǎn)品的軟、硬件實(shí)現(xiàn)技術(shù)方面來(lái) 

看，GT/ICT軟件脫胎于DOS系統(tǒng)，主要由中小規(guī)模集成電路組成，而GT/ICT-Ⅱ系列*在Windows平臺(tái)上打造，大量采用了大規(guī)模EPLD、表面貼 

裝器件等現(xiàn)代電路設(shè)計(jì)技術(shù)，因而具有更友好的人-機(jī)界面，更高的技術(shù)指標(biāo)和可靠性。  
全面提高技術(shù)水平的目的，是改進(jìn)、擴(kuò)充測(cè)試功能。為突出重點(diǎn)，先在本文中介紹對(duì)兩個(gè)Z常用的測(cè)試功能：“ASA（VI）曲線測(cè)試”、“數(shù) 

字器件在線功能測(cè)試”的改進(jìn)。（注意相同之處不再贅述，請(qǐng)參見GT/ICT測(cè)試儀的相關(guān)說(shuō)明）。我們將在以后的文章中，介紹其它方面的改進(jìn) 

。 
需要說(shuō)明的是，市場(chǎng)上的GT/ICT系列測(cè)試儀有幾個(gè)版本，總體水平差別不大，僅軟件界面形式略有不同。本文主要以其中一種作為參照。 

二、對(duì)ASA（VI）曲線測(cè)試的改進(jìn) 
2.1 大大擴(kuò)展了故障覆蓋范圍