METROTOM三維X射線測量系統(tǒng)介紹：

1.用于質(zhì)量保證的三維 X 射線測量技術(shù) ZEISS METROTOM

2.基于 ZEISS METROTOM 的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）

3.利用蔡司的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次 X 射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)收檢測、精密工程和完善的校準(zhǔn)程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺(tái)，滿足客戶對(duì)精度的高要求。

4.利用 ZEISS METROTOM 輕松完成測量任務(wù)

METROTOM三維X射線測量系統(tǒng)特點(diǎn)：

1.測量與檢驗(yàn)整體部件

ZEISS METROTOM 是一種用于測量和檢驗(yàn)塑料或輕金屬部件的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描測量系統(tǒng)。而在利用傳統(tǒng)測量機(jī)測量時(shí)，此類隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過費(fèi)時(shí)的層層破壞方能獲得。

輕松且精準(zhǔn)地進(jìn)行多樣化特征檢測

利用 ZEISS METROTOM 計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結(jié)果非常精準(zhǔn)，且具可追溯性。和接觸式測量方法不同，ZEISS METROTOM 獲取海量測量點(diǎn)時(shí)，時(shí)間顯著縮短。

2.直觀簡易的軟件操作

僅需通過短時(shí)間的 ZEISS METROTOM OS 軟件培訓(xùn)課程，操作人員即可對(duì)零件進(jìn)行掃描，透視零件的內(nèi)部。利用 ZEISS CALYPSO 可評(píng)估 CT 數(shù)據(jù)，再利用 ZEISS PiWeb 即可快速地將兩者融合于同一份測量報(bào)告中。