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廣州領(lǐng)拓儀器科技有限公司
初級(jí)會(huì)員 | 第3年

400-8084-333

標(biāo)樂(lè)Buehler 金相制樣
徠卡Leica 顯微鏡
徠卡Leica 電鏡制樣
威爾遜
形創(chuàng) 三維掃描測(cè)量
萊馳RETSCH 粉碎、研磨、篩分
麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒度粒形分析儀
埃爾特ELTRA 碳 / 氫 / 氧 / 氮 / 硫元素分析儀
卡博萊特蓋羅Carbolite Gero 高溫箱爐
鼎竑離子減薄
EM科特 臺(tái)式掃描電鏡
美墨爾特
微曠 高性能原位X射線CT
英斯特朗Instron 力學(xué)測(cè)試
業(yè)納 長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x器
澤攸科技掃描電鏡&臺(tái)階儀
島津Shimadzu 色譜
島津Shimazu 元素分析與光譜儀
島津Shimazu 表面分析
島津Shimadzu 物理性分析
島津Shimadzu 無(wú)損檢測(cè)
TQC /SHEEN涂料測(cè)試
其他設(shè)備
金相切片耗材
INSTEC 冷熱臺(tái)
  • Artisan砂紙

    型號(hào): 所在地:參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 16:04:40 對(duì)比
  • SpediMet金剛石磨盤(pán)

    型號(hào): 所在地:參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 16:03:28 對(duì)比
  • 拋光液

    MetaDi鉆石懸浮液和漿料是高質(zhì)量的單晶和多晶金剛石拋光產(chǎn)品,可提供可重復(fù)的性能并提供出色的樣品質(zhì)量。 嚴(yán)格控制Buehler的MetaDi鉆石懸浮拋光劑和糊...

    型號(hào): 所在地:參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 16:01:51 對(duì)比
  • Hentec Industries可焊性測(cè)試系統(tǒng)—Pulsar

    面向電子裝配和制造的精密焊接自動(dòng)化設(shè)備制造商Hentec Industries公司(前RPS自動(dòng)化有限責(zé)任公司)推出一代可焊性測(cè)試系統(tǒng)—Pulsar。

    型號(hào): 所在地:參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 16:00:19 對(duì)比
  • DSC-60 Plus/60 A Plus 差示掃描量熱儀

    差示掃描量熱儀?!皟?nèi)置自動(dòng)進(jìn)樣器"概念,使用*的軟件功能來(lái)節(jié)約成本,提高效率;機(jī)身小巧,可安裝在有限的空間內(nèi)。

    型號(hào): 所在地:廣州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 15:58:38 對(duì)比
    差示掃描量熱儀
  • DTG-60/DTG-60A 差熱熱重同步分析儀

    新型的自動(dòng)差熱-熱重同步分析儀,定義了熱分析自動(dòng)進(jìn)樣技術(shù)的新標(biāo)準(zhǔn)。提高了系統(tǒng)的操作性、靈敏度和分析準(zhǔn)確度。

    型號(hào): 所在地:廣州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 15:53:30 對(duì)比
    DTG-60/DTG-60A 差熱熱重同步分析儀
  • 標(biāo)樂(lè)Buehler 薄切片系統(tǒng)PetroThin -領(lǐng)拓儀器

    PetroThin®薄切片系統(tǒng)是一套精確且易于使用的設(shè)備,用于重新切片和減薄各種不同樣品,比如巖石和礦物、陶瓷、混凝土、骨頭和牙齒,以實(shí)現(xiàn)材料的表征。

    型號(hào): 所在地:參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 15:49:50 對(duì)比
  • EcoMet™ 30 單&雙盤(pán)磨拋機(jī)-領(lǐng)拓儀器

    EcoMet 30為手動(dòng)磨拋提供了簡(jiǎn)易操作的解決方案,平面式設(shè)計(jì)的防濺罩使得您在握持樣品時(shí)獲得出色的控制??刹灏蔚哪ケP(pán)設(shè)計(jì),易于使用,易于清潔。

    型號(hào): 所在地:參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 15:37:08 對(duì)比
  • 杯突試驗(yàn)儀-領(lǐng)拓儀器

    TQC杯突試驗(yàn)儀是評(píng)價(jià)漆膜涂層在ISO 1520標(biāo)準(zhǔn)下使之逐漸變形后,其抗開(kāi)裂或與金屬底材分離的性能的設(shè)備。TQC杯突試驗(yàn)儀內(nèi)置了變速箱,可以限度的均勻施加力在...

    型號(hào): 所在地:參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 15:30:09 對(duì)比
  • 徠卡Leica Exalta 可追溯顯微鏡檢查的智能設(shè)備-領(lǐng)拓儀器

    植入式醫(yī)療器械的生產(chǎn)和質(zhì)量控制 (QC) 需要進(jìn)行大量的顯微鏡外觀檢查。目前,手動(dòng)外觀檢查解決方案通常有一個(gè)缺點(diǎn)。 那就是很難在多人操作的情況下確保根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)程序...

    型號(hào): 所在地:參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 15:25:22 對(duì)比
  • Rotothinner旋轉(zhuǎn)粘度計(jì)-領(lǐng)拓儀器

    旋轉(zhuǎn)粘度計(jì)在添加溶劑和稀釋劑測(cè)量RFU粘度的過(guò)程中,可以輕松連續(xù)檢測(cè)材料粘度。Rotothinner旋轉(zhuǎn)粘度計(jì)根據(jù)不同的轉(zhuǎn)軸可提供三個(gè)不同的測(cè)試范圍。Rotot...

    型號(hào): 所在地:參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 15:23:52 對(duì)比
  • TM Electronics-Integra Flex 檢漏儀-領(lǐng)拓儀器

    Integra Flex系列是TME泄漏測(cè)試儀器的新產(chǎn)品系列,既可作為機(jī)架式工業(yè)品,也可作為臺(tái)式設(shè)備使用。該新產(chǎn)品線適用于大規(guī)模部署的質(zhì)量和過(guò)程控制。系統(tǒng)可以配...

    型號(hào): 所在地:參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 15:22:27 對(duì)比
  • TMA-60/60H 熱機(jī)械分析儀

    熱機(jī)械分析儀。可使用多種測(cè)量方式(膨脹、拉伸、針刺)分析多種樣品,評(píng)估材料的機(jī)械特性。

    型號(hào): 所在地:廣州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 15:22:22 對(duì)比
    熱機(jī)械分析儀
  • 博勢(shì)Proceq PaperSchmidt 紙卷分析回彈儀-領(lǐng)拓儀器

    PaperSchmidt 是專門(mén)為測(cè)試紙卷分析數(shù)據(jù)而設(shè)計(jì)的集成回彈儀。它具有高精度和可重復(fù)性,可實(shí)時(shí)提供評(píng)估紙卷質(zhì)量所需的所有關(guān)鍵參數(shù)。PaperSchmidt...

    型號(hào): 所在地:參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 15:20:45 對(duì)比
  • 博勢(shì)Proceq Equotip Leeb U 和 紙卷硬度計(jì)-領(lǐng)拓儀器

    Equotip 550 Leeb U 是 Parotester 的繼承者,適用于紙張、膠片、箔、紡織物、硬紙板和皮革的硬度檢測(cè)。新一代觸摸屏界面是由行業(yè)專家精心...

    型號(hào): 所在地:參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 15:19:01 對(duì)比
  • Curvex3爐溫跟蹤儀-領(lǐng)拓儀器

    Curvex-3爐溫記錄儀是新一代易于操作和使用的高質(zhì)量溫度記錄儀,它為烘爐的設(shè)計(jì)及烘烤過(guò)程質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)和專業(yè)化的報(bào)告。使用CurveX 3標(biāo)準(zhǔn)烤箱記...

    型號(hào): 所在地:參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 15:15:59 對(duì)比
  • SALD-2300粒度分析儀

    激光衍射式粒度分布測(cè)量?jī)xSALD-2300更加廣泛的測(cè)量范圍,方便、高效的進(jìn)行精密測(cè)定的粒度儀,其粒徑測(cè)量范圍可達(dá)17納米到2500微米。

    型號(hào): 所在地:廣州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 15:00:22 對(duì)比
    粒度分析儀
  • IG-1000粒度分析儀

    單一納米顆粒粒度分析儀,超越單納米區(qū)域,深入亞納米區(qū)域。榮獲Pittcon2009“撰稿人獎(jiǎng)"銅獎(jiǎng)

    型號(hào): 所在地:廣州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 14:42:22 對(duì)比
    粒度分析儀
  • EPMA-8050G 場(chǎng)發(fā)射電子探針

    從SEM觀察條件到1μA量級(jí),在各種束流條件下都擁有空間分辨率的場(chǎng)發(fā)射電子光學(xué)系統(tǒng)。

    型號(hào): 所在地:廣州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 14:28:18 對(duì)比
    電子探針X射線
  • AXIS SUPRA X射線光電子能譜儀

    Axis Supra 的設(shè)計(jì)理念是將樣品自動(dòng)載入、光學(xué)顯微鏡輔助定位樣品分析位置和智能的數(shù)據(jù)采集、處理等易用性集成于XPS,并未由于高度自動(dòng)化而喪失高性能。超高...

    型號(hào): 所在地:廣州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/10/9 14:13:15 對(duì)比
    AXIS SUPRA X射線光電子能譜儀

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