目錄:聯(lián)合光科技(北京)有限公司>>測(cè)量?jī)x器>>光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)>> 760000UV相機(jī)測(cè)試系統(tǒng)
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更新時(shí)間:2024-03-29 12:23:51瀏覽次數(shù):73評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
UV光輻射可探測(cè)的被測(cè)試相機(jī)在不同增益下的最小等級(jí)(可探測(cè)到的最弱的程度);
UV光的最小可探測(cè)等級(jí)與圓形角尺寸之間的關(guān)系(UV源可以被探測(cè)到的最小距離);
兩個(gè)小UV源并且各自作為獨(dú)立光源之間可以被探測(cè)到的最小距離;
對(duì)于生成有用的被觀察景物的可見光圖像所需要的最小的輻射;
可見光通道生成的最小圖像;
UV通道與可見光通道之間的軸對(duì)準(zhǔn)偏差(UV通道生成的圖像與可見光通道生成的圖像之間的偏差);
被測(cè)試的UV相機(jī)對(duì)日光的抵抗能力。
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