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[供應]4200A-SCS-美國泰克4200A-SCS 參數分析儀
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  • 4200A-SCS-美國泰克4200A-SCS 參數分析儀
貨物所在地:
江蘇蘇州市
產地:
美國
更新時間:
2025-05-26 09:03:12
有效期:
2025年5月26日 -- 2025年11月23日
已獲點擊:
207
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產品簡介

美國泰克4200A-SCS 參數分析儀概述
使用 4200A-SCS 加快半導體設備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 高性能參數分析儀,提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。

詳細介紹

美國泰克4200A-SCS 參數分析儀特性

大膽發(fā)現從未如此容易。 4200A-SCS 參數分析儀可將檢定和測試設置的復雜程度降低高達 50%,提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。 另外,嵌入式測量專業(yè)知識可提供測試指南并讓您對結果充滿信心。

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換,無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產品不同,四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看,可快速完成測試設置,并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。

簡單地說,4200A-SCS 可以*自定義且全面升級,您可以對半導體設備、新材料、有源/無源組件、晶片級可靠性、故障分析、電化學或幾乎任何類型的樣本執(zhí)行電氣檢定和評估。

4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器,包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

 

美國泰克4200A-SCS 參數分析儀技術參數

型號說明主要測量范圍測量分辨率
  4200-SMU  中等功率源測量單元  DC I-V
超低頻率 C-V
準靜態(tài) C-V
  ±100 mA, ±210 V  0.2 mV, 100 fA
4210-SMU高功率源測量單元±1 A, ±210 V0.2 mV, 100 fA
4200-PA遠程前端放大器模塊擴展所有 SMU 的電流范圍0.2 mV, 10 aA
   1 kHz - 10 MHz 
4210-CVU電容電壓單元AC 阻抗
C-V, C-f, C-t
±30 V 內置DC 偏置裝置(60 V 差分)
使用 SMU 擴展直流偏置電壓至
-
   ±210V 
4200A-CVIVI-V/C-V 多通道
開關模塊
DC I-V 和 C-V 自動切換--
  脈沖式 I-V
SegmentARBR® 多電平脈沖
瞬態(tài)波形捕獲
±40 V (80 V p-p), ±800 mA
200 MSa/s 同時測量電流和電壓
 
4225-PMU超快速脈沖測量單元2048 個段75 nA
  20 ns 脈寬僅輸出時 
  60 ns 脈寬輸出同時測流時 
4225-RPM遠程前段放大器 /
開關模塊
DC I-V、C-V、脈沖式 I-V
間自動切換
擴展 4225-PMU 單元的電流范圍200 pA
4220-PGU高壓脈沖發(fā)生器單元脈沖式電壓源
Segment ARB® 多電平脈沖
±40 V (80 Vp-p)
2048 個段
-
接地單元內置低噪聲接地單元-三同軸連接 : 2.6 A
接線柱 : 9.5 A

 

 

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