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　　透射電鏡力電原位系統(tǒng)通過MEMS(微機電系統(tǒng))芯片在原位樣品臺內(nèi)構(gòu)建力、電復(fù)合多場自動控制及反饋測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)結(jié)合了多種透射電鏡(TEM)的分析模式，以實現(xiàn)對樣品在真空環(huán)境下隨電場、施加力變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu)、相變、元素價態(tài)、微觀應(yīng)力以及表/界面處的結(jié)構(gòu)和成分演化的實時監(jiān)測，能夠為研究納米尺度材料及器件提供電學(xué)性能分析支撐。

　　透射電鏡力電原位系統(tǒng)的應(yīng)用如下：

　　1.材料科學(xué)：用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu)、晶格缺陷、晶界和界面，以及材料的相變和相互作用。這對于新材料的開發(fā)與性能優(yōu)化具有重要意義。

　　2.納米科學(xué)與納米技術(shù)：對于納米材料的結(jié)構(gòu)和行為研究具有關(guān)鍵作用，能夠揭示納米材料的特殊性質(zhì)和潛在應(yīng)用。

　　3.能源研究：在電池材料、催化劑等能源材料的研究中，該系統(tǒng)可用于觀察電極和電解質(zhì)的相互作用，以及材料的性能和壽命變化。

　　4.生物科學(xué)：雖然透射電鏡在生物科學(xué)中的應(yīng)用相對較少，但力電原位系統(tǒng)為觀察生物樣品中的細(xì)胞結(jié)構(gòu)、蛋白質(zhì)等生物分子的形貌和組成提供了新的可能性。

　　該系統(tǒng)可實現(xiàn)從納米層面實時、動態(tài)監(jiān)測樣品在真空環(huán)境下隨電場、施加力變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu)、相變、元素價態(tài)、微觀應(yīng)力以及表/界面處的結(jié)構(gòu)和成分演化等關(guān)鍵信息。