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廣東天瑞儀器有限公司
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X射線熒光光譜儀 EDX1800B
  • X射線熒光光譜儀 EDX1800B

貨物所在地:江蘇蘇州市

地: 江蘇

更新時(shí)間:2024-12-17 21:00:21

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ROHS1.0&RoHS2.0測(cè)試儀
X射線熒光光譜儀 EDX1800B包括:EDX1800B用于ROHS六大有害物質(zhì)含量檢測(cè),Thick800A用于金屬電鍍層厚度測(cè)試儀,Explorer5000用于金屬成分分析儀,explorer9000用于土壤重金屬含量檢測(cè),EDX4500用于全元素含量分析。

  X射線熒光光譜儀 EDX1800B包括:EDX1800B用于ROHS六大有害物質(zhì)含量檢測(cè),Thick800A用于金屬電鍍層厚度測(cè)試儀,Explorer5000用于金屬成分分析儀,explorer9000用于土壤重金屬含量檢測(cè),EDX4500用于全元素含量分析。

可在兩分鐘的時(shí)間內(nèi)對(duì)電子電器及塑膠等產(chǎn)品的鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、鉻(Cr)以及溴(Br)五種元素含量。天瑞儀器秉承“無(wú)微不”的精神,采用新技術(shù),特別設(shè)計(jì)EDX1800B型號(hào)的X射線熒光光譜儀。該系列產(chǎn)品在單位時(shí)間內(nèi)接受信息多、計(jì)數(shù)率高分辨率好,探測(cè)效率更高,探測(cè)信噪比更強(qiáng),檢出限更低采用行業(yè)的數(shù)字多道技術(shù)。優(yōu)勢(shì):有效提高輸出效率,實(shí)現(xiàn)超高計(jì)數(shù)率,采集有效計(jì)數(shù)率可達(dá)1000Wcps,采用大功率X光管及的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng),優(yōu)勢(shì):激發(fā)效率更高,樣品更換無(wú)需關(guān)閉高壓,提高測(cè)試效率與測(cè)試精度,精密的定位系統(tǒng) ,超高清晰工業(yè)攝像頭,更清晰的顯示測(cè)試點(diǎn),2D全自動(dòng)移動(dòng)樣品臺(tái)——可實(shí)現(xiàn)圖像聯(lián)動(dòng)控制,多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試,超小樣品檢測(cè)——小可測(cè)到0.2毫米。作為一種快捷方便的光譜分析方法,EDX1800B被于重金屬四項(xiàng)和鹵素含量的掃描測(cè)試。儀器配有相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)樣品。
 

 

X射線熒光光譜儀 EDX1800B可以滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求, ,鉑,銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè).屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。用于貴金屬加工和飾加工行業(yè);銀行,飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求,高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度;定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊,鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)的位置就是被測(cè)點(diǎn),高分辨率探頭使分析結(jié)果更加,良好的射線屏蔽作用。測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)。同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)。開放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。

Explorer5000手持式XRF儀器是天瑞儀器結(jié)合10年手持便攜式研發(fā)經(jīng)驗(yàn),集中了光電子、微電子、半導(dǎo)體和計(jì)算機(jī)等多項(xiàng)技術(shù),研制出具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的,一代手持XRF產(chǎn)品。EXPLORER 5000便攜式XRF合金分析儀是先使用大屏高分辨率液晶顯示屏及新型數(shù)字多道數(shù)據(jù)處理器的便攜式手持合金分析儀。超低的檢出限使手持式分析儀的性能媲美臺(tái)式機(jī);儀器體積小,重量輕,可隨身攜帶進(jìn)行測(cè)量,適用于各類型合金樣品的分析。
合金行業(yè)應(yīng)用
貴金屬合金
鋼鐵冶煉
廢舊金屬回收
機(jī)械制造與加工
鍋爐壓力容器
航天工業(yè)
船舶制造
EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、、無(wú)損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng),可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果,利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行分析,在冶煉過程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短,大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。
另外,在合金分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。

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