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詳細摘要： 五工位插拔力試驗機，相比常規(guī)的五工位插拔力有所不同，常規(guī)的五工位插拔力是一個傳感器帶五個求心裝置以及五套夾具，在測試同步的同時，力值也是顯示總個五個產(chǎn)品的力值。...

詳細摘要： 三工位插拔力壽命試驗機，是一款經(jīng)濟型的插拔力壽命試驗機，采用PLC觸摸屏控制，三個工位獨立設置，獨立控制。在機構(gòu)上也是獨立的，就是說每個工位測試的產(chǎn)品都可以不一...

詳細摘要： 翻蓋藍牙耳機扭力疲勞測試機適用于藍牙耳機、Hinge、折疊插頭等扭力壽命疲勞試驗機，搭配高精度行星減速機保證了扭轉(zhuǎn)角度準確控制與扭力的穩(wěn)定性

詳細摘要： 其中翻蓋的功能在客戶使用比較頻繁，所以就需要一種設備來檢測其壽命，要求更為嚴格的需要測試翻蓋扭力。綜上述藍牙耳機翻蓋扭力壽命機應市場而生。

詳細摘要： 芯片微焊點剪切力推拉力測試機廣泛應用于半導體封裝、光通訊器材件封裝、LED封裝、COB/COG工藝測試、研究所材料力學研究、材料可靠性測試等應用領(lǐng)域，是Bond...

詳細摘要： 柔性材料耐折扭轉(zhuǎn)翻折試驗機可以做FPC柔性電路板，柔性膜柔性屏以及柔性太陽能電池的彎折耐久壽命測試。上述幾種材料使用于各個行業(yè)，且關(guān)系到產(chǎn)品的品質(zhì)。對其的耐折抗...

詳細摘要： 航空航天、船舶、汽車、機械和其他領(lǐng)域中的一些部件在工作環(huán)境中不是單個方向的受力。比如一個連接器公母端插入時，會收到一個上垂直下方向的力值，但公母端兩個壁之間也會...

詳細摘要： 醫(yī)療設備、家用電器、工控機、計算機、顯示器等大型的產(chǎn)品其側(cè)面有諸多按鍵開關(guān)，是需要做一些荷重行程手感測試，以及壓力強度測試。這種測試更能模擬實際使用的情況的耐疲...

詳細摘要： 醫(yī)療設備、家用電器、工控機、計算機、顯示器等大型的產(chǎn)品其側(cè)面有諸多數(shù)據(jù)插口接插件，是需要做一些插拔力壽命測試，以及強度測試。這種測試更能模擬實際使用的情況的耐疲...

詳細摘要： 針對一些成品如顯示器，電腦主機，家用電器等其四個側(cè)面均有按鍵或者接口如USB,視頻音頻插口等。這些均需要測試按鍵的荷重行程手感，插口的插拔力以及壽命。所以就需要...

詳細摘要： 高低溫拉力材料測試機主要適用于橡膠，塑料異型材，塑料管材、板材、片材，薄膜、電線電纜、防水卷材、金屬絲等材料在高溫或低溫環(huán)境下,進行拉力、壓力,撕裂,剪力,剝離...

詳細摘要： 高低溫材料拉力試驗機主要適用于橡膠，塑料異型材，塑料管材、板材、片材，薄膜、電線電纜、防水卷材、金屬絲等材料在高溫或低溫環(huán)境下,進行拉力、壓力,撕裂,剪力,剝離...

詳細摘要： 大型連接器插拔力試驗機非標是在標準的插拔力試驗機基礎上升級而成。標準的插拔力就是市場上常見的立柱寬240mm，加寬型400mm，測試行程在159mm左右，試驗機...

詳細摘要： 筆記本轉(zhuǎn)軸鉸鏈扭力衰減壽命試驗機可測試Notebook上蓋在多次打開、關(guān)閉后，轉(zhuǎn)軸扭力衰退情形，可每次量測轉(zhuǎn)軸扭力值并記錄曲線變化及繪制扭力衰減壽命曲線圖，改良...

詳細摘要： 電腦全自動伺服扭力扭轉(zhuǎn)測試機是根據(jù)客戶要求，測試產(chǎn)品結(jié)構(gòu)非標定制得扭力試驗機。傳感器配置，驅(qū)動結(jié)構(gòu)的放置，以及上下活動的方式都是可以根據(jù)客戶要求定制

詳細摘要： 目前市場上的按鍵開關(guān)荷重回彈手感試驗機已經(jīng)功能有增加，是在原來標準的荷重行程手感試驗機基礎上，根據(jù)諸多客戶要求，逐步完善測試功能的一款荷重曲線機。除了傳統(tǒng)的荷重...

詳細摘要： 連接器端子接插件排針插拔力試驗機可以測試連接器單孔插拔試驗，連接器整排插拔試驗，連接器單Pin與塑膠保持力試驗，連接器NORMAL FORCE測試，一般壓縮，拉...

詳細摘要： 蘇州聯(lián)往設備主營力學試驗機，信賴性檢測設備以及非標定制設備。同時我司也銷售配套的剝離力夾具移動平臺非標測試治具，求心裝置，測試針，測試棒，剝離力鋼板，剝離力夾具...

詳細摘要： 開關(guān)開距測試機試驗機主要測試按鍵開關(guān)的荷重、行程、阻抗等參數(shù)。為達到測試要求，相比標準的荷重行程阻抗機器不管硬件還是軟件均有較大改變。傳感器倒置不會在測試時導致...

詳細摘要： 開關(guān)行程開距試驗機主要測試按鍵開關(guān)的荷重、行程、阻抗等參數(shù)。為達到測試要求，相比標準的荷重行程阻抗機器不管硬件還是軟件均有較大改變。傳感器倒置不會在測試時導致試...