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符合：ISO 17294-2 規(guī)定的水質(zhì)分析 國際標準 ISO 17294-2 規(guī)定使用 ICP-MS方法測定飲用水、地表水、地下水和廢水中 的多種分析物[1]。ISO 17294-2 將幾種稀土元素 (REEs) 列入分析物，但 REEs 會與其 他所需分析物發(fā)生光譜重疊。通常，水樣中的 REEs 濃度較低，而某些天然水樣中含 量可能更高，并且人類活動可使 REEs 水平高于自然水平。REEs 的第二電離勢比較 低，意味著它們比大多數(shù)其他元素更容易形成雙電荷離子 (M2+)。四極桿 ICP-MS 根 據(jù)質(zhì)荷比 (m/z) 實現(xiàn)分離，因此使用四極桿 ICP-MS 測量時，這些雙電荷離子的質(zhì)量 數(shù)只有其真實質(zhì)量數(shù)的一半。如果樣品中含有較高水平的 REEs，這些 M2+ 的干擾可 能會導致砷和硒等元素的測量信號偏高，進而導致這些重要元素出現(xiàn)假陽性結果[2]。 Agilent ICP-MS MassHunter 軟件包含對 REE2+ 干擾的實時校正功能，確保存在 REEs 的情況下獲得準確的 As 和 Se 結果。

省時的方法開發(fā) 采用 Agilent 7850 ICP-MS等離子體質(zhì)譜儀 進行分析。選擇“通用"的預設方法應用等離子體參數(shù)， 所有透鏡均自動調(diào)諧。方法設置由 ICP-MS MassHunter 的“方法向?qū)?定義，這是 一項自動化功能，可應用所有必需的采集和數(shù)據(jù)分析參數(shù)，包括 M2+ 校正。此方法 可確保始終采集參數(shù)，不受用戶經(jīng)驗的影響。 簡單的自動化校正 REE2+ 干擾 釹 (Nd)、釤 (Sm)、釓 (Gd) 和鏑 (Dy) 等 REEs 的 M2+ 離子與 As 和 Se 的單電荷離子 出現(xiàn)相同的 m/z 信號。例如，150Nd2+ 和 150Sm2+ 與 75As+ 重疊，156Gd2+ 和 156Dy2+ 與 78Se+ 重疊。

使用 7850 ICP-MS（經(jīng)過和未經(jīng)過 M2+ 校正）測量加標 REEs 的 NIST SRM 1640a 水中的 As 和 Se。在 100 ppb Nd 和 Sm 的存在下 As 的標準值回收率，以及在 10 ppb Gd 和 Dy 的存 在下 Se 的標準值回收率如圖 1 所示。在未經(jīng) M2+ 校正的情況 下，REE2+ 重疊的干擾導致 As 和 Se 的回收率假性升高。然 而，通過應用自動化的 M2+ 校正，兩種元素的加標回收率都在 標準值的 ±3% 以內(nèi)，準確度得到了顯著提升。 測量的一系列水樣中所有 28 種分析物的平均濃度和回收率可 參見此分析的完整應用簡報[3]。

簡化日常維護 為了提高水質(zhì)檢測實驗室的分析性能、穩(wěn)定性和分析效率，根據(jù)所測溶液數(shù)量而非運行時間來安排日常維護。7850 ICP-MS 允許用戶針對常規(guī)維護任務設置早期維護反饋 (EMF) 使用率計數(shù)器，如更換泵管、清潔接口錐或更換真空 泵油。可以根據(jù)正在運行的樣品類型調(diào)整維護頻率，以確保 ICP-MS 始終得到理想維護并在最佳性能下運行，并幫助您避 免計劃外停機。