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詳細(xì)摘要： 自1962年日立開發(fā)出第一代KLA型氨基酸分析儀以來，經(jīng)過56年的時間，歷經(jīng)KLA型、KLA-5型、835型、L-8500型號、L-8800型號、L-8900六...

詳細(xì)摘要： Vulcan 是一款耐用且分析速度極快的合金分析儀?？郯鈾C(jī)后一秒即會顯示結(jié)果。且產(chǎn)品使用激光誘導(dǎo)擊穿光譜技術(shù) （LIBS），您無需擔(dān)心X射線的影響。無論您的業(yè)務(wù)...

詳細(xì)摘要： 手持式X光熒光分析儀（HHXRF）的X-MET8000系列提供進(jìn)行快速的合金等級鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準(zhǔn)確化...

詳細(xì)摘要： XRF 分析（X射線熒光）與高度靈活和強(qiáng)大的能量色散X射線熒光 （EDXRF） 光譜儀 X-Supreme8000 和 Lab-X5000，在各種應(yīng)用中保證質(zhì)量...

詳細(xì)摘要： XRF 分析（X射線熒光）與高度靈活和強(qiáng)大的能量色散X射線熒光 （EDXRF） 光譜儀 X-Supreme8000 和 Lab-X5000，在各種應(yīng)用中保證質(zhì)量...

詳細(xì)摘要： 手持式X光熒光分析儀（HHXRF）的X-MET8000系列提供進(jìn)行快速的合金等級鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準(zhǔn)確化...

詳細(xì)摘要： 概要：對應(yīng)環(huán)境限制物質(zhì)管理、可快速且簡單測量有害物質(zhì)的X射線熒光分析儀。

詳細(xì)摘要： 微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測試，在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)?；赬-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供...

詳細(xì)摘要： 束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測試，在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易...

詳細(xì)摘要： FT160配置部件，可以提供精細(xì)結(jié)構(gòu)上的超薄鍍層的元素分析。毛細(xì)管聚焦光學(xué)鏡能聚焦直徑小于30μm的X射線束，從而在樣品上集中更大強(qiáng)度且其可測量的部件尺寸小于傳...

詳細(xì)摘要： 精工是水平雙臂式TG/DTA技術(shù)的，EXSTAR系列TG/DTA以其性能及出色的性價(jià)比贏得了包括清華大學(xué)、北京大學(xué)、中科院、索尼、普利斯通等國內(nèi)外眾多用戶的青睞...

詳細(xì)摘要： 日立高新針對RoHS 2.0指令中的1 0 種限制使用物質(zhì)的分析解決方案。

詳細(xì)摘要： New STA系列新增了能夠確保天平部位溫度恒定的新結(jié)構(gòu)，消除了受加熱爐溫度變化影響而導(dǎo)致的微小重量誤差，讓基線穩(wěn)定性水平遠(yuǎn)超日立原有產(chǎn)品。在加熱爐內(nèi)未放置試樣...

詳細(xì)摘要： EA8000是，與X射線、CT、X光照相同原理通過X射線透射圖像捕捉樣品中的金屬異物，再通過熒光X射線分析使元素清晰化的異物分析裝置。所謂的熒光X射線分析，是指...

詳細(xì)摘要： 通過將可選項(xiàng)的精度管理型軟件進(jìn)一步升級,并使之成為標(biāo)準(zhǔn)配備，實(shí)現(xiàn)了低價(jià)格化。與以往儀器相比，環(huán)境管制物質(zhì)的測量時間大幅縮短，材料辨識功能、分析線切換功能、清晰易...

詳細(xì)摘要： 通過位置精度較高的自動樣品臺和高靈敏度性能，可以對微小異物進(jìn)行快速掃描和檢查，也可對電子基板等復(fù)合材料制品的微小特定部位實(shí)施定點(diǎn)測量。

詳細(xì)摘要： 「EA1200VX」沿用了新精工電子納米科技有限公司自行開發(fā)的高計(jì)數(shù)率（能檢測大量X射線的能力）檢測器「Vortex」，具有更高的靈敏度和分辨率。適用于RoHS...