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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,電子/電池 |
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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
多功能高速導通電阻測試能夠在定點溫度、高溫高濕、高低溫冷熱沖擊、高低溫快速溫度循環(huán)、高度加速壽命試驗，各種可靠度環(huán)境試驗下，高速量測、紀錄、數(shù)據(jù)分析各種材料與焊點，如：FPC、PCBA、電阻、電感、 電容、BGA、CSP焊點、*封裝(Sip、SoC、WLP、PLP、FOWLP、3D-IC、FCin MCep、FCBGA、 Fc CSP等)的接合度可靠性，協(xié)助客戶快速有效分析產(chǎn)品接合點可靠度評估。
產(chǎn)品特點：
符合國際規(guī)范的多軌高速掃瞄式量測(2sec/per 10ch)。
搭配溫度循環(huán)機、溫度沖擊機、HAST、高低溫試驗箱、震動臺進行測試整合，最多2臺。
可執(zhí)行溫度循環(huán)、溫度沖擊及定點量測。
可依據(jù)規(guī)范或是待測品特性限值比對點。
可設(shè)定失效上限、下限電阻值與失效變化率。
于同一視窗可直接觀看溫度沖擊或溫度循環(huán)及阻值的紀錄曲線。
測試過程環(huán)境試驗設(shè)備溫濕度與量測同步合併紀錄與分析。
簡、中、英三種顯示語系切換。
三種語系操作界面。
多功能高速導通電阻測試規(guī)格表：
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