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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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無須更換檢測器或爐體， LFA467 HyperFlash在同一臺儀器上可實現(xiàn) -100°C 到 500°C 的寬廣溫度范圍。加上目前市場上種類較豐富的可選配件，開創(chuàng)了熱物性測量的新天地。
進(jìn)樣器附有 16 個樣品位，樣品容納量為原來的 4 倍
LFA 467 HyperFlash 的一大優(yōu)勢是可以在整個溫度范圍內(nèi)連續(xù)測量 16 個樣品，大大縮短
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
激光導(dǎo)熱分析儀LFA 467 HyperFlash 、激光導(dǎo)熱分析儀LFA 467 HyperFlash 、激光導(dǎo)熱分析儀LFA 467 HyperFlash
ZoomOptics 得到的測量結(jié)果更準(zhǔn)確，減少測量誤差
技術(shù)的 ZoomOptics 優(yōu)化了檢測器的檢測范圍，從而消除了孔徑光闌的影響。顯著增加了測量結(jié)果的精度。
*的采樣頻率（2MHz），特別適合于薄膜樣品
薄膜樣品及高導(dǎo)熱材料需要快速的數(shù)據(jù)采集速率，來精確地記錄樣品上表面的升溫過程。LFA 467 HyperFlash 可以提供 2MHz 的數(shù)據(jù)采集速率，這是 LFA 系統(tǒng)*的。
LFA 467 HyperFlash® - 技術(shù)參數(shù)
- 溫度范圍：-100°C ... 500°C，單一爐體
- 非接觸式測量，IR 檢測器檢測樣品上表面升溫過程
- 數(shù)據(jù)采集速率：高達(dá) 2MHz（包括半升溫信號檢測，及 pulse mapping 技術(shù)）-- 對于高導(dǎo)熱及薄膜樣品，采樣時間（約為半升溫時間 10 倍）可低至 1ms，樣品厚度較薄可至 0.01 mm 以下（取決于具體的導(dǎo)熱系數(shù)）
- 熱擴(kuò)散系數(shù)測量范圍：0.01 mm2/s ... 2000 mm2/s
- 導(dǎo)熱系數(shù)測量范圍：< 0.1 W/(mK) ... 4000 W/(mK)
- 樣品尺寸：
- 直徑 6 mm ... 25.4 mm（包括方形樣品）
- 厚度 0.01 mm ... 6 mm（樣品的厚度要求取決于不同樣品的導(dǎo)熱性能） - 16 個樣品位的自動進(jìn)樣器
- 20 多種支架類型
- 豐富的測量模式，適應(yīng)各種類型的樣品。如各向異性材料，多層模式分析，薄膜，纖維，液體，膏狀物，粉末，熔融金屬，壓力下的測試，等等。
- Zoom Optics 優(yōu)化檢測器的檢測范圍
- 保護(hù)的 pulse mapping 技術(shù)（US 7038209, US 20040079886, DE 10242741 – approximation of the pulse），用于脈沖寬度修正，可以提高比熱值的測量精度
- 氣氛：惰性、氧化性、靜態(tài)/動態(tài)、負(fù)壓
- 遵從如下標(biāo)準(zhǔn): ASTM E1461, ASTM E2585, DIN EN 821-2, DIN 30905, ISO 22007-4, ISO 18755, ISO 13826; DIN EN 1159-2, 等.