電阻膜厚度計RST-231

易于操作
，可在短時間內(nèi)（0.7秒）測量絕緣體上的金屬膜，具有高精度

- 在0.7秒內(nèi)測量絕緣體上的金屬薄膜 - 
使用PC 
輕松
讀取屏幕 - 易于校準和測量 - 可以立即查看圖形，輪廓等 - 
異常值檢測功能

電阻膜厚度計RST-231的特點

在0.7秒內(nèi)測量絕緣體上的金屬膜

在短時間（0.7秒）內(nèi)高精度地測量絕緣體上的金屬膜（例如銅箔和印刷電路板的電鍍）。

易于查看的屏幕配置

屏幕寬大，明亮，使用PC可輕松查看。

易于校準和測量

易于校準和測量?？梢赃x擇兩個測量范圍（2至24μm，10至120μm）。

可以立即看到各種數(shù)字

經(jīng)過統(tǒng)計處理后，可以立即看到直方圖，輪廓和xR圖表。

異常值檢測功能

如果設定膜厚度的上限和下限，則通知異常值。

我們每次探測都應對交流

如果探針*損壞，可以更換每個*，并且可以以低成本進行修復。

易于統(tǒng)計處理

可以為每個通道保存測量數(shù)據(jù)，并且可以稍后在測量數(shù)據(jù)上設置統(tǒng)計項目以進行統(tǒng)計處理。

多可注冊40個頻道

多可注冊40個通道，因此您可以根據(jù)用戶名和部件號??分別注冊來管理通道。

我們每次探測都應對交流

使用4-探針探針（開爾文型），可以高精度地測量雙面和多層基板，而不受背面和內(nèi)層的影響。

直方圖

xR圖表

統(tǒng)計顯示

測量原理

探頭有四個直立的金屬銷（探頭）。 使四個探針與待測量的絕緣體上的金屬箔或金屬電鍍表面接觸。向外部兩個探頭施加恒定電流（I）并測量電壓（V）。與探針接觸的金屬箔或金屬鍍層的厚度（T）可以在某些條件下通過下式計算。 T = K×I÷V  這里，K是常數(shù) ，因此如果測量兩個內(nèi)部探頭之間的電壓，可以測量金屬箔或金屬鍍層的厚度。

電阻膜厚度計RST-231規(guī)格·4探頭探頭規(guī)格

注意：規(guī)格如有更改，恕不另行通知。

日本電測膜厚計RST-231 日本電測膜厚計RST-231

TQ-50NG16

TQ-100NG16

TQ-150NG16

TQ-200NG16

TQ-300NG16

TQ-500NG16

TQ-1KNG16

TQ-1.5KNG16

TQ-2KNG16

TQ-3KNG16

TQ-4KNG16

TQ-5KNG16

TQ-7KNG16

TQ-10KNG16

TQR-200MNA32

TQR-500MNA32

TQR-1NA32

TQR-2NA32

TQR-3NA32

TQR-5NA32

TQT-2NB57M2G4

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TQT-30NB57M2G4

TQT-50NB57M2G4

TQT-70NB57M2G4

LC-10KNE450

LC-20KNE450

LT-5KNG56

LT-10KNG56

LT-20KN

PG-200MPG7

PG-300MPG7

PG-400MPG7