目錄:北京航天偉創(chuàng)設(shè)備科技有限公司>>電性能測(cè)試>>高壓擊穿測(cè)試儀>> LDJC-100kVLDJC電壓擊穿試驗(yàn)儀 電氣絕緣強(qiáng)度測(cè)試儀
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更新時(shí)間:2025-06-18 09:26:44瀏覽次數(shù):68評(píng)價(jià)
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擊穿電壓 | 100KV | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬(wàn)-10萬(wàn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
聚酰胺6(PA6)是一種廣泛應(yīng)用的工程塑料,而增強(qiáng)改性是PA6重要的改性手段,經(jīng)過(guò)增強(qiáng)改性的PA6在電子電氣T業(yè)中,可用于制造絕緣插座、支撐架、外殼等器件。對(duì)于工頻絕緣材料來(lái)說(shuō),介電強(qiáng)度是一個(gè)重要的性能指標(biāo),介電強(qiáng)度的定義是擊穿電壓與絕緣體厚度的比值,即材料能長(zhǎng)期承受的最大場(chǎng)強(qiáng)。由于主鏈中重復(fù)出現(xiàn)的酰胺基是一個(gè)極性基團(tuán),和水分子之間能夠形成氫鍵,因此和聚烯烴等疏水性聚合物相比,具有較大的吸水率 ,其制品常因吸水而引起電性能變化,對(duì)準(zhǔn)確測(cè)定PA6類(lèi)材料的介電強(qiáng)度帶來(lái)了極大的干擾。
LDJC-100kV計(jì)算機(jī)控制電壓擊穿試驗(yàn)儀 LDJC電壓擊穿試驗(yàn)儀 電氣絕緣強(qiáng)度測(cè)試儀
介電強(qiáng)度的定義是擊穿電壓與絕緣體厚度的比值,當(dāng)樣品厚度統(tǒng)一時(shí),絕緣材料介電擊穿電的變化即體現(xiàn)了其介電強(qiáng)度的變化。介電擊穿與力學(xué)破壞相似,總是與材料的局部不完善性或某種弱點(diǎn)有關(guān)。高聚物介電擊穿按其形成的機(jī)理,大致可以分為本征擊穿、熱擊穿和放電引起的擊穿三種主要形式。
當(dāng)PA6的吸水率較低時(shí),樣品擊穿位置在電極邊沿,測(cè)試位置處產(chǎn)生碳化物,并且擊穿時(shí)會(huì)產(chǎn)生臭味;當(dāng)PA6的相對(duì)吸水率更高時(shí),樣品擊穿位置在電極中間,擊穿區(qū)域光潔無(wú)碳化物。
在本實(shí)驗(yàn)中所用電極的邊沿為半徑為3.2mm的弧,盡管在測(cè)試前已涂抹了真空硅脂,但是在測(cè)試時(shí)兩電極邊沿間肯定會(huì)存在空隙,空隙中的氣體介電強(qiáng)度比PA6樣品的介電強(qiáng)度低得多,當(dāng)樣品的含水率較低時(shí),在高壓交變電場(chǎng)作用下,電極邊沿間的氣體首先發(fā)生電離放電。放電時(shí)被電場(chǎng)加速的電子和離子轟擊樣品表面,可以直接破壞高分子結(jié)構(gòu),放電產(chǎn)生的熱量可能引起高分子的熱降解,放電生成的臭氧和氮的氧化物將使樣品氧化老化,反復(fù)放電使樣品所受的侵蝕不斷加深,最后導(dǎo)致材料擊穿。即當(dāng)含水率較低時(shí),PA6的介電擊穿機(jī)理以放電引起的擊穿為主。
當(dāng)樣品的吸水率超過(guò)一定值后,在低頻下,樣品中的水主要以離子電導(dǎo)的形式增加電導(dǎo)電流,引起介電損耗,且體系的介電損耗隨著水含量的增加而有所升高。另外,當(dāng)PA6的吸水率增大時(shí),分子的降解程度也隨之增大;同時(shí)結(jié)晶度下降。造成材料的局部缺陷增多。在高壓電場(chǎng)作用下,由于介電損耗所產(chǎn)生的熱量來(lái)不及散發(fā)出去,熱量的積累使樣品的溫度上升,而隨著溫度的升高,樣品的電導(dǎo)率按指數(shù)規(guī)律急劇增大,電導(dǎo)損耗產(chǎn)生更多的熱量,又使溫度進(jìn)一步升高,這樣惡性循環(huán)的結(jié)果導(dǎo)致樣品發(fā)生擊穿。即當(dāng)樣品的吸水率較高時(shí),PA6的介電擊穿機(jī)理以熱擊穿為主,由于電極中間的場(chǎng)強(qiáng)最一強(qiáng),與樣品接觸最緊密,散熱量最小,故熱擊穿多發(fā)生在電極中間。
吸水率的升高會(huì)引起PA6介電損耗的升高和局部缺陷的增多,介電擊穿機(jī)理從以放電擊穿為主轉(zhuǎn)為以需要能量低的熱擊穿為主,這就是吸水率增加會(huì)引起 PA6 類(lèi)材料介電強(qiáng)度降低的原因。
LDJC電壓擊穿試驗(yàn)儀 電氣絕緣強(qiáng)度測(cè)試儀
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