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高光譜成像同時(shí)兼?zhèn)?的光譜分辨率和圖像空間分辨率。功能上高速光譜掃描和成像、定位同步實(shí)現(xiàn)；光譜掃描范圍覆蓋可見(jiàn)光、近紅外一區(qū)及二區(qū)；成像與定位包含熒光、電致發(fā)光、光致發(fā)光、透射、反射等多種成像模式。IMA™ *的高通量全視野濾玻技術(shù)，把光譜掃描模式帶入到全視野面掃描時(shí)代，掃描速度有了質(zhì)的飛躍。
詳細(xì)介紹
高光譜成像介紹：
高光譜成像同時(shí)兼?zhèn)?的光譜分辨率和圖像空間分辨率。功能上高速光譜掃描和成像、定位同步實(shí)現(xiàn)；光譜掃描范圍覆蓋可見(jiàn)光、近紅外一區(qū)及二區(qū)；成像與定位包含熒光、電致發(fā)光、光致發(fā)光、透射、反射等多種成像模式。IMA™ *的高通量全視野濾玻技術(shù)，把光譜掃描模式帶入到全視野面掃描時(shí)代，掃描速度有了質(zhì)的飛躍。
IMA™高光譜顯微成像系統(tǒng)為眾多領(lǐng)域的研究提供了切實(shí)可靠的方法學(xué).
- 進(jìn)行復(fù)雜的材料的分析，如太陽(yáng)能電池表征和半導(dǎo)體質(zhì)量控制(例如: 鈣鈦礦, GaAs, SiC, CIS, CIGS, 等)；
- 暗場(chǎng)掃描與追蹤，透明樣本和未染色樣品(如聚合物、晶體或活細(xì)胞)的比對(duì)；
- 研究包括活細(xì)胞和組織在內(nèi)的復(fù)雜環(huán)境中的紅外標(biāo)記與應(yīng)用。如:近紅外二區(qū)熒光探針的特殊光譜特性及其相關(guān)應(yīng)用研究。
