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PicoFemto掃描電鏡SEM原位液體-電化學(xué)測量系統(tǒng), 掃描電鏡原位液體-電化學(xué)測量系統(tǒng)采用全新的O圈輔助密封設(shè)計，攻克了以往原位液體解決方案裝樣困難的問題...

PicoFemto掃描電鏡SEM原位光電力一體化系統(tǒng)，原位掃描電鏡光電力一體化系統(tǒng)集成了掃描探針控制單元，可在三維空間內(nèi)對電學(xué)探針與光纖探針進(jìn)行亞納米級別精度的...

PicoFemto掃描電鏡SEM原位高溫拉伸臺， 掃描電鏡原位高溫拉伸臺集成了力學(xué)拉伸模塊以及高溫環(huán)境模塊，可以實現(xiàn)在掃描電鏡中對樣品原位加熱的同時進(jìn)行拉伸實驗...

掃描電鏡原位氣氛環(huán)境測量系統(tǒng)將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環(huán)境并且可以對實驗樣品原位加熱。掃描電鏡SEM原位...

PicoFemto ZEM15臺式掃描電子顯微鏡，ZEM15掃描速度快，信號采集帶寬10M，可以在視頻模式下流暢實時的顯示樣品。只需鼠標(biāo)就可完成所有操作，不需對...

PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿,透射電鏡原位拉伸樣品桿，透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對材料施加拉力，結(jié)合透射電鏡原位觀察材料結(jié)構(gòu)的變化。

PicoFemto冷凍樣品桿，TEM冷凍樣品桿可以使被觀測樣品處于液氮低溫下，減弱了電子束輻照對樣品的損傷，同時也能研究材料的低溫結(jié)構(gòu)。

PicoFemto透射電鏡真空轉(zhuǎn)移樣品桿，透射電鏡真空轉(zhuǎn)移樣品桿采用可伸縮的樣品桿端頭設(shè)計，從而實現(xiàn)將樣品從真空室或手套箱的真空環(huán)境下轉(zhuǎn)移到透射電鏡內(nèi)的目的，避...

PicoFemto透射電鏡多孔樣品桿，透射電鏡多孔樣品桿使研究者們可以將多三個樣品同時置入透射電鏡中，*提高了透射電鏡的使用效率。該產(chǎn)品還可以選擇雙傾版本，每個...

PicoFemto透射電鏡360°水平旋轉(zhuǎn)樣品桿，透射電鏡360°水平旋轉(zhuǎn)樣品桿同時具備β角傾轉(zhuǎn)以及360°水平旋轉(zhuǎn)的功能，可以在...

PicoFemto透射電鏡樣品桿預(yù)抽存儲系統(tǒng)（T-staion）由內(nèi)置進(jìn)口分子泵組、樣品桿預(yù)抽室及觸摸顯示屏組成。適用于各品牌透射電鏡樣品桿，保證樣品桿*處于高...

透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計，更易封裝液體。實驗中，樣品被密封在超薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi)，池內(nèi)可以承載一個大氣壓。芯片...

透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)-樣品桿，透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能...

透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡可以在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率。透射電子顯微鏡原位加熱/電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品...

透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實現(xiàn)高1 Bar & 800 ℃的觀測條件。該系統(tǒng)使研究者可以在原子尺度上實時觀測催...

原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng),該產(chǎn)品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境（包括力、熱、光、...

透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng)?，同時集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進(jìn)行定量的力學(xué)測量。MEMS芯片模塊上可以選擇加熱芯...

透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時，動態(tài)、...

透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時，動...

透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時，動...