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鍍層測厚儀XRF-2020功能應用及原理

 

X射線或粒子射線經物質照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析

 

 

應用實例圖示

（1）單鍍層：Ag/xx		（2）合金鍍層：Sn-Pb/xx		（3）雙鍍層：Au/Ni/xx
Ag		Sn-Pb		Au
底材		底材		Ni
				底材
（4）合金鍍層：Sn-Bi/xx		（5）三鍍層：Au/Pd/Ni/xx		（6）化學鍍層：Ni-P/xx
Sn-Bi		Au		Ni-P
底材		Pd		底材
		Ni
		底材

（1）單鍍層：Ag/xx		（2）合金鍍層：Sn-Pb/xx		（3）雙鍍層：Au/Ni/xx
Ag		Sn-Pb		Au
底材		底材		Ni
				底材
（4）合金鍍層：Sn-Bi/xx		（5）三鍍層：Au/Pd/Ni/xx		（6）化學鍍層：Ni-P/xx
Sn-Bi		Au		Ni-P
底材		Pd		底材
		Ni
		底材

 

鍍層測厚儀XRF-2020功能應用及原理

規(guī)格型號如下圖所示

 

三款規(guī)格型號如下圖所示

 

 

鍍層測厚儀MicroP XRF-2020

 

儀器整機*，配置全自動臺面，自動雷射對焦,多實現多點自動測量

 

 

功能及應用：

測量：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金

可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層，不限底材。