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金屬分析儀器-貴金屬礦檢測(cè)儀器

1. 主要型號(hào)及特點(diǎn)

（1）Vanta Element-S（經(jīng)濟(jì)型）

• 適用場(chǎng)景：基礎(chǔ)礦石分析、礦脈勘探

• 檢測(cè)元素：Mg（鎂）~ U（鈾）

• 核心優(yōu)勢(shì)：

• 性?xún)r(jià)比高，適合預(yù)算有限的用戶(hù)

• 防塵防水（IP54），適應(yīng)野外環(huán)境

• 配備硅漂移探測(cè)器（SDD），檢測(cè)速度快（1~3秒）

（2）Vanta C系列（高性能）

• 適用場(chǎng)景：高精度礦石分析、稀土元素檢測(cè)

• 檢測(cè)元素：擴(kuò)展至輕元素（可選配Li、Be等）

• 核心優(yōu)勢(shì)：

• 超高靈敏度（ppm級(jí)檢測(cè)限）

• 可測(cè)**稀土元素（REE）**如La、Ce、Nd等

• 耐環(huán)境（-10°C~50°C）

（3）Vanta M系列（工業(yè)級(jí)）

• 適用場(chǎng)景：礦山質(zhì)量控制、冶煉廠原料檢測(cè)

• 檢測(cè)元素：全元素覆蓋（可選配LIBS測(cè)輕元素）

• 核心優(yōu)勢(shì)：

• 抗摔設(shè)計(jì)（1.2米跌落測(cè)試）

• 大容量電池（連續(xù)工作8~12小時(shí)）

• 支持云數(shù)據(jù)同步，方便團(tuán)隊(duì)協(xié)作

2. 核心技術(shù)：X射線(xiàn)熒光（XRF）

• 原理：X射線(xiàn)激發(fā)礦石原子，通過(guò)熒光光譜分析元素成分。

• 精度：

• 主量元素（如Fe、Cu）誤差<1%

• 微量元素（如Au、Ag）檢測(cè)限達(dá)ppm級(jí)

• 適用礦石類(lèi)型：

• 金屬礦（銅、鐵、鉛鋅、金、銀等）

• 稀土礦（釹、鑭、鈰等）

• 工業(yè)礦物（磷灰石、鋁土礦等）

金屬分析儀器-貴金屬礦檢測(cè)儀器

3. 典型應(yīng)用場(chǎng)景