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[供應]S100/S200/S300-第三代半導體電性能測試用源表
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  • S100/S200/S300-第三代半導體電性能測試用源表
貨物所在地:
湖北武漢市
產地:
武漢市東湖新技術開發(fā)區(qū)
更新時間:
2025-05-14 11:04:25
有效期:
2025年5月14日 -- 2025年8月13日
已獲點擊:
102
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產品簡介

第三代半導體電性能測試用源表支持四象限工作,源和負載;電壓及電流范圍廣,最小電流分辨率10pA,電流100pA~1A,電壓0.3mV~300V,準確度為0.1%;

詳細介紹

第三代半導體電性能測試用源表支持四象限工作,源和負載;電壓及電流范圍廣,最小電流分辨率10pA,電流100pA~1A,電壓0.3mV~300V,準確度為0.1%;5寸觸摸顯示屏圖形化操作,內置強大的功能軟件,加速用戶完成測試;支持多種通訊方式,RS-232、GPIB及以太網;  

源表突出特點:使用一臺儀器進行多種測量;

應用領域:

分立半導體器件特性測試,電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC、GaN等器件;

能量與效率特性測試,LED/AMOLED、太陽能電池、電池、DC-DC轉換器等

傳感器特性測試,電阻率、霍爾效應等

有機材料特性測試,電子墨水、印刷電子技術等

納米材料特性測試,石墨烯、納米線等

測試功能:

微電路

1

晶圓

L-IV測試,輸入曲線、輸出曲線

2

芯片

L-IV測試,輸入曲線、輸出曲線

器件

1

二極管

正向導通電壓、正向電流、反向擊穿電壓、反向漏電流

2

三極管

L-IV測試,輸入曲線、輸出曲線

3

MOSFET

L-IV測試,輸入曲線、輸出曲線

4

IGBT

L-IV測試,輸出曲線、轉移曲線

5

晶閘管

正向電壓電流曲線、反向電壓電流曲線、觸發(fā)特性

電池

1

鋰電池

IV測試,充放電掃描曲線

2

光伏電池

IV測試,放電掃描曲線

材料

1

石墨烯

IV測試、輸入曲線、輸出曲線

2

納米線

IV測試、輸入曲線、輸出曲線

   

S系列源表特點:

  1. 5寸800*480觸摸顯示屏,全圖形化操作            

  2. 內置強大的功能軟件,加速用戶完成測試,如LIV、PIV

  3. 源及測量的準確度為0.1%,分辨率5位半

  4. 四象限工作(源和肼),源及測量范圍:高至300V,低至10pA

  5. 豐富的掃描模式,支持線性掃描、指數掃描及用戶自定義掃描

  6. 支持USB存儲,一鍵導出測試報告

  7. 支持多種通訊方式,RS-232、GPIB及以太網  



應用優(yōu)勢:

1、 多功能測量需求下的廣泛的適應性,電壓高300V,電流低至100pA

2、 實現“源"的輸出和“表"的測量同步進行,提高測試效率。

3 具備對測試器件的保護功能,可進行自我限制,避免因過充而造成的對測試器件的損害;

精確的電壓電流限制功能,為器件提供完善的保護功能,避免器件損壞。

4、 觸屏圖形化操作,使用簡單。開放式平臺,可根據實際應用的需求而針對性的開發(fā)軟件。


國產優(yōu)勢

1、自主研發(fā),符合大環(huán)境下國內技術自給的需求;

2、性價比高;

3、及時與客戶溝通,為客戶提供高性價比系統解決方案。及時指導客戶編程,速測試系統開發(fā)。


更多有關第三代半導體電性能測試用源表的信息找武漢生產廠家普賽斯儀表

三類源表.jpg



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