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當(dāng)前位置：> 供求商機(jī)> DE-TS-T150-兩箱式冷熱（溫度）沖擊試驗(yàn)箱
提籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)和試驗(yàn)方法
*GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn) *GB/2423.13-2002溫度沖擊試驗(yàn) *GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn) *GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件規(guī)格 | *GB/T2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007 低溫試驗(yàn)法 *GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 *GB/T2423.2-2008 高溫試驗(yàn)法 ...... |
DE-TS-T系列提籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于設(shè)備零部件、汽車配件、金屬制品、化工材料、電子芯片、高分子材料等相關(guān)行業(yè)*的檢測(cè)設(shè)備，可用于測(cè)試材料或元器件在瞬間的高溫或極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選（溫度循環(huán)）、高/低溫環(huán)境適應(yīng)性和可靠性試驗(yàn)，對(duì)各種大型電工電子產(chǎn)品用于發(fā)現(xiàn)早期故障、模擬實(shí)際溫度與快溫變環(huán)境和考核產(chǎn)品耐受溫度的能力。
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