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* GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

*GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

*GJB150.3A－2009 高溫試驗(yàn)方法

*GJB150.4A－2009 低溫試驗(yàn)方法

* GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Nb：規(guī)定溫度變化速率的溫度變化

*GB/T2423.3-2008(IEC68-2-3) 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法

*GJB150.9A-2009 濕熱試驗(yàn)方法

*G/BT 2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005 試驗(yàn)Db:交變濕熱方法

*GB/T5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備

*GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

*GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件