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便攜x射線熒光光譜儀(XRF)是一種現(xiàn)代化的設(shè)備，可用于分析不同類型的材料中的元素成分。簡單來說，它是一種利用x射線激發(fā)樣品并測量樣品輻射的技術(shù)。其優(yōu)點在于它的便攜性，可以輕松攜帶到各種巨型建筑物，工業(yè)設(shè)備，甚至是遠(yuǎn)程現(xiàn)場，用于采集數(shù)據(jù)和分析物質(zhì)成分。這種設(shè)備能夠?qū)崿F(xiàn)非破壞性分析，即無需取樣品。因此，這種設(shè)備既方便又快速。