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詳細(xì)摘要： 日本小倉珠寶ogura藍寶石水射流噴嘴超高壓水刀的應(yīng)用范圍很廣，包括清潔，剝落和提升混凝土，去除樹脂毛刺和切割紙張。我們開發(fā)了“藍寶石水射流噴嘴"，該噴嘴可為超...

詳細(xì)摘要： 日本ogura用于工件上雕刻和繪制的鉆石筆鉆石筆是一種敲擊型筆，在筆尖使用鉆石。鉆石在地球上具有g(shù)ao的硬度，可以在各種工件上雕刻和繪制。D點筆和D筆可提供不同...

詳細(xì)摘要： 日本小倉珠寶ogura單晶金剛石咬口銑刀我們充分利用記錄針制造中培育的先進單晶鉆石精細(xì)加工技術(shù)，提供適用于精密零件和精密模具加工的具有鋒利切削刃的單晶鉆石叮咬和...

詳細(xì)摘要： 日本ogura樹脂，金屬，電鍍金屬結(jié)合輪研磨高硬度材料PCD（金剛石燒結(jié)體），PCBN（CBN燒結(jié)體），金剛石，陶瓷，超硬合金，藍寶石，紅寶石，水晶，玻璃等。

詳細(xì)摘要： 日本小倉珠寶ogura陶瓷結(jié)合劑CBN砂輪CBN Ernest Boy陶瓷結(jié)合劑CBN砂輪“ CBN Ernest Boy"是通過應(yīng)用Ernest Boy的技術(shù)...

詳細(xì)摘要： 日本小倉珠寶ogura陶瓷結(jié)合劑金剛石砂輪Ernest Boy陶瓷結(jié)合劑金剛石砂輪“ Ernest Boy"是我公司為金剛石加工優(yōu)化的砂輪，多年來，該公司一直是...

詳細(xì)摘要： 日本napson硅片晶圓平整度測量系統(tǒng)FLA-200非接觸式平面度/厚度測量系統(tǒng)。測量晶片樣品的平整度（TTV，BOW，WARP）和厚度。-支持測量厚度，TTV...

詳細(xì)摘要： 日本napsonμ非接觸式光學(xué)膜厚測量系統(tǒng)FilmTek 1000該公司的產(chǎn)品可以執(zhí)行非接觸，非破壞性和高精度的折射率測量，半導(dǎo)體，光電，數(shù)據(jù)存儲，平板，MEM...

詳細(xì)摘要： 日本napsonμ非接觸μ-PCD法測量硅片磚壽命非接觸/無損壽命測量與單晶和多晶硅樣品兼容支持多點樣本測量和映射圖像顯示包含激情膠囊（用于威化餅）

詳細(xì)摘要： 日本napson非接觸式JIS法硅錠壽命測定儀HF-100DCA以硅塊，JIS tanzaku形狀和晶錠狀態(tài)（單晶/多晶硅）測量樣品直流方式接觸測量通過示波器和...

詳細(xì)摘要： 日本napson非接觸式硅錠壽命測量儀HF-90R樣品以JIS Tanzaku形狀進行測量（單晶硅）通過光電導(dǎo)衰減法進行非接觸式測量通過示波器和PC進行數(shù)據(jù)處理...

詳細(xì)摘要： 日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測儀PVE-80一種非接觸式電阻測量系統(tǒng)，使用脈沖電壓激勵方法作為測量原理，可在不損壞樣品的情況下進行測量。

詳細(xì)摘要： 日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES易于攜帶和測量的手提式薄層電阻測量儀：DUORES根據(jù)測量目標(biāo)交換和使用兩種類型的探頭（無損探頭和接觸探頭）。

詳細(xì)摘要： 日本napson非接觸式渦流法薄層電阻測量儀NC-10/NC-20使用個人計算機節(jié)省空間，易于操作和數(shù)據(jù)處理由于它是一種非接觸式渦流方法，因此可以進行測量而不會...

詳細(xì)摘要： 日本napson手持式探針無損渦流法電阻測量儀EC-80P只需觸摸手持式探頭即可測量電阻。在電阻/薄層電阻測量模式之間輕松切換使用JOG撥盤輕松設(shè)置測量條件連接...

詳細(xì)摘要： 日本napson手動非接觸式渦流法電阻測量儀EC-80緊湊且易于操作的手動非接觸式（渦流法）電阻測量儀

詳細(xì)摘要： 日本emp小型電磁氣泵MV-10氣體檢測儀氣體分析儀消毒柜孵化器

詳細(xì)摘要： 日本emp氣體分析儀用電磁氣泵SV-10RRA氣體檢測儀氣體分析儀臭氧發(fā)生器噴墨打印機

詳細(xì)摘要： 日本emp氣體檢測儀用電磁氣泵MV-05氣體檢測儀氣體分析儀臭氧發(fā)生器環(huán)境測試設(shè)備

詳細(xì)摘要： 日本芝浦機電shibaura皮拉尼真空計PG系列測量范圍廣：1.0 x 10 -1至1.0 x 10 4 Pa耐故障的恒溫類型大型數(shù)字廣告，可見度高小巧的機身可...