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雙電測量四探針方阻電阻率測試儀亦稱雙位組合）測量新技術,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控制下進行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。因而每次測量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響進行動態(tài)的自動修正，因此顯著降低了幾何因素影響，從而提高了測量結果的準確度。所有這些，用目前大量使用的常規(guī)四探針測量方法所生產的儀器是無法實現(xiàn)的。是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序。

雙電測量四探針方阻電阻率測試儀測試程序控制四探針測試儀進行測量并采集測試數據，把采集到的數據在計算機中加以分析，然后把測試數據以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數據在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數據輸出到Excel中，讓用戶對數據進行各種數據分析1、測量范圍：電阻率：0.001－200Ω.cm(可擴展)薄層電阻:0.01-2000Ω/口(可擴展)可測晶片厚度：≤3.00mm2、恒流電源:電流分為100mA、1mA、10mA、 100ma 四檔 ；連續(xù)可調；穩(wěn)定度優(yōu)于0.3%3、數字電壓表：量程：0－199.99mV;分辨率：0.01mV精度：±0.1%顯示：四位半紅色發(fā)光管數字顯示。極性、小數點、超量程自動顯示；4、模擬電路測試誤差：(用1、10、100、1000 ?精密電阻測量)≤±0.3%±1字

測量范圍電阻率：10-4～105Ω.cm（可擴展）；

方塊電阻：10-3～106Ω/□（可擴展）；

電導率：10-5～104s/cm；

電阻：10-4～105Ω；

可測晶片厚度≤3mm

四探針探頭基本指標間距：1±0.01mm；

針間絕緣電阻：≥1000MΩ；

機械游移率：≤0.3%；

探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；