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原位加熱樣品臺(tái)產(chǎn)品特點(diǎn)介紹
本公司原位加熱樣品臺(tái)由樣品臺(tái)，控制器，以及計(jì)算機(jī)軟件程序等構(gòu)成，該設(shè)備使用四電極法閉合回路控制及反饋環(huán)境溫度以消除接觸電阻影響。可用于電鏡樣品在不同的高溫條件下的結(jié)構(gòu)表征。
原位加熱樣品臺(tái)主要在低維材料、納米技術(shù)、材料工程、能源材料及軟物質(zhì)等研究領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
● 快速實(shí)現(xiàn)溫度/樣品的穩(wěn)定
● 準(zhǔn)確的溫度測量
● 樣品制備簡單易行
● 超高的溫度精度及溫度均勻性
性能規(guī)格
● 工作溫度范圍: 室溫到1100℃(普通芯片)；室溫到1300℃(高溫芯片)
● 加熱方式：四電極法閉合回路控制及反饋環(huán)境溫度
● 溫度精度：< 5 %
● 溫度穩(wěn)定性：< 0.01 °C
● 加熱速率：200℃/ms
● 溫度設(shè)定時(shí)間：< 2s
● 樣品漂移：溫差1000℃時(shí)，< 200nm
● 轉(zhuǎn)角范圍：單傾；雙傾；三維重構(gòu)
● 分辨率：不低于電鏡室溫分辨率