CPS納米粒度分析儀，有別于傳統(tǒng)方法，通過差示離心沉降原理為顆粒的精細區(qū)分提供新的解決方案
這種原理有以下幾點優(yōu)勢：
分辨率高：
同激光散射和顆粒計數(shù)法等方法比較，該方法有非常高的分辨率。對于只有 1%的顆粒差異分布的時候，該方法測定的結果仍然有好的分離效果。您能看到的是顆粒分布本身，而不是分布顆粒的混合圖。
靈敏度高：
低至 10-8 g 的樣品就可以滿足日常分析需要。
重復性高：
樣品結果在95%的典型置信度下，連續(xù)重復分析峰的重復性小 于+/-1% 或更好。
快速、高精度數(shù)模(A/D)轉換:
可用信號分辨率(即軟件操作的對象)決定于 數(shù)模轉換的過程。CPS系統(tǒng)使用的數(shù)模 轉換 可以實現(xiàn)在每秒31次取樣時保持20位以上的精 度，幾百萬分之一的誤差。
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