2025半導(dǎo)體先進(jìn)技術(shù)創(chuàng)新發(fā)展和機(jī)遇大會(huì)（SAT CON 2025）旨在加大上下游聯(lián)動(dòng)，促進(jìn)整個(gè)產(chǎn)業(yè)鏈有序、高效地蓬勃發(fā)展，為與會(huì)者提供半導(dǎo)體領(lǐng)域內(nèi)功率電子、微波射頻、光電子材料等前沿技術(shù)、產(chǎn)品、標(biāo)準(zhǔn)以及材料應(yīng)用的最新信息。

有各路半導(dǎo)體領(lǐng)域的頂尖專(zhuān)家學(xué)者、行業(yè)人才及創(chuàng)新先鋒共襄盛舉。讓為大會(huì)增添璀璨光芒，讓我們攜手共繪泛半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展的宏偉藍(lán)圖，以智慧碰撞激發(fā)創(chuàng)新火花，共同譜寫(xiě)行業(yè)發(fā)展的嶄新篇章！

公司成立于2021年，是一家注冊(cè)在蘇州、具備先進(jìn)技術(shù)的非接觸式半導(dǎo)體檢測(cè)分析設(shè)備制造商。公司集研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造、銷(xiāo)售于一體，主要攻克國(guó)外壟斷技術(shù)，替代進(jìn)口產(chǎn)品，使半導(dǎo)體材料測(cè)試設(shè)備國(guó)產(chǎn)化。

主要產(chǎn)品：非接觸式無(wú)損方塊電阻測(cè)試儀、晶圓方阻測(cè)試儀，方阻測(cè)試儀，硅片電阻率測(cè)試儀，渦流法高低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，渦流法電阻率探頭和PN探頭測(cè)試儀，遷移率（霍爾）測(cè)試儀，少子壽命測(cè)試儀，晶圓、硅片厚度測(cè)試儀，表面光電壓儀JPV\SPV。為碳化硅、硅片、氮化鎵、氧化鎵、薄膜、玻璃、襯底和外延廠商提供測(cè)試和解決方案。