ICP-MS 工作流程中的時(shí)間陷阱

電感耦合等離子體質(zhì)譜 (ICP-MS) 是用于測(cè)量各種樣品類(lèi)型 中痕量與常量元素的一項(xiàng)成熟技術(shù)。ICP-MS 廣泛應(yīng)用于食 品、農(nóng)業(yè)、環(huán)境、地球化學(xué)和地質(zhì)、材料和半導(dǎo)體、石化、 生命科學(xué)、臨床研究以及核能等行業(yè)。

ICP-MS 因其高靈敏度、基質(zhì)耐受性以及在較寬濃度范圍內(nèi)測(cè)量元素的能力而聞名。簡(jiǎn)單的譜圖以及對(duì)干擾的可靠控制，使 ICP-MS 成為從飲用水和環(huán) 境監(jiān)測(cè)到食品安全和藥物生產(chǎn)的常規(guī)和受監(jiān)管應(yīng)用的首選技術(shù)。 

許多實(shí)驗(yàn)室正試圖從其他原子光譜技術(shù)轉(zhuǎn)為 ICP-MS，或希望通過(guò)升級(jí) ICP-MS  實(shí)現(xiàn)更低的檢測(cè)限和更高的樣品通量。不熟悉這項(xiàng)技術(shù)的實(shí)驗(yàn)室可能會(huì)認(rèn)為 ICP-MS 難以掌握和使用，且操作和維護(hù)成本高昂。這些臆想出的困難甚至 可能使某些人不愿采用這項(xiàng)技術(shù)。

已經(jīng)使用 ICP-MS 的實(shí)驗(yàn)室有時(shí)可能會(huì)在優(yōu)化方法和工作流程方面遇到困 難，但許多人認(rèn)為這是設(shè)置和運(yùn)行 ICP-MS 不可避免的問(wèn)題。對(duì)于尚未優(yōu)化 ICP-MS 方法的實(shí)驗(yàn)室而言，一些低效且不必要的事項(xiàng)（時(shí)間陷阱）會(huì)影響 分析效率和盈利能力。這些時(shí)間陷阱的代價(jià)不僅僅是浪費(fèi)時(shí)間。因手動(dòng)方法 設(shè)置、儀器檢查以及不得不進(jìn)行重復(fù)分析而負(fù)擔(dān)過(guò)重的員工可能會(huì)對(duì)工作感 到不滿(mǎn)，且更容易出錯(cuò)。錯(cuò)誤會(huì)導(dǎo)致重復(fù)分析，影響樣品分析周期以及報(bào)告 結(jié)果的質(zhì)量，從而使實(shí)驗(yàn)室的名譽(yù)受到威脅。